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    SIMULTANEOUS VISAR AND TXD MEASUREMENTS ON SHOCKS IN BERYLLIUM CRYSTALS
    Hauer, Allan
    2001
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    SIMULTANEOUS VISAR AND TXD MEASUREMENTS ON SHOCKS IN BERYLLIUM CRYSTALS
    Swift, D. C. ; Paisley, Dennis L. ; et al.
    2021
    unknown
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Talbot–Lau X-Ray Deflectometer as a High-Energy Density Plasma Diagnostic.
    Valdivia, Maria Pia ; Stutman, Dan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 44 (2016-09-01), Heft 9, Part1, S. 1592-1598
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading.
    Fan, D. ; Lu, L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-11-01), Heft 11, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Simulation of Reciprocal Space Maps with the Use of Spectral Angular Diagrams in the Triple Crystal X-Ray Diffraction Scheme.
    Atknin, I. I. ; Marchenkov, N. V. ; et al.
    In: Journal of Experimental & Theoretical Physics, Jg. 130 (2020), Heft 1, S. 7-13
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Surface X-ray diffraction in transmission geometry
    Tajiri, Hiroo ; Sakata, Osami ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 234 (2004-07-15), Heft 1-4, S. 403-408
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Transient x-ray diffraction with simultaneous imaging under high strain-rate loading
    Chen, W. [School of Aeronautics and Astronautics, and School of Material Science Engineering, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907 (United States)]
    2014
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Capturing Transient Structures in the Elimination Reaction of Haloalkane in Solution by Transient X-ray Diffraction.
    Jae Hyuk Lee ; Tae Kyu Kim ; et al.
    In: Journal of the American Chemical Society, Jg. 130 (2008-05-07), Heft 18, S. 5834-5835
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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