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    Evaluation of the Radiation Hardness of Photodiodes in 180-nm CMOS Technology for Medical Applications.
    Segmanovic, Filip ; Meinhardt, Gerald ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 2367-2374
    Online academicJournal
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    Radiation Hardening of Digital Color CMOS Camera-on-a-Chip Building Blocks for Multi-MGy Total Ionizing Dose Environments.
    Goiffon, Vincent ; Rolando, Sebastien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), Heft 1, part 1, S. 45-53
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Total Ionizing Dose Radiation-Induced Dark Current Random Telegraph Signal in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors.
    Durnez, Clementine ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 92-100
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons.
    Ratti, Lodovico ; Brogi, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-02-01), Heft 2, S. 567-574
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Total Ionizing Dose Effects on a Radiation-Hardened CMOS Image Sensor Demonstrator for ITER Remote Handling.
    Goiffon, Vincent ; Rizzolo, Serena ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), Heft 1, S. 101-110
    Online academicJournal
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    Volltext
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    X-Ray and Proton Radiation Effects on 40 nm CMOS Physically Unclonable Function Devices.
    Wang, P. F. ; Zhang, E. X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 1519-1524
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    X-ray Performance Evaluation of the Dexela CMOS APS X-ray Detector Using Monochromatic Synchrotron Radiation in the Mammographic Energy Range.
    Konstantinidis, Anastasios C. ; Szafraniec, Magdalena B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-22), Heft 5, S. 3969-3980
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Multi-MGy Radiation Hard CMOS Image Sensor: Design, Characterization and X/Gamma Rays Total Ionizing Dose Tests.
    Goiffon, Vincent ; Corbiere, Franck ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-12-01), Heft 6a, S. 2956-2964
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Charge Signal Processors in a 130 nm CMOS Technology for the Sparse Readout of Small Pitch Monolithic and Hybrid Pixel Sensors.
    Traversi, Gianluca
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-15), Heft 5, S. 2391-2400
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Experimental and Theoretical Evaluation of a High Resolution CMOS Based Detector Under X-Ray Imaging Conditions.
    Michail, Christos M. ; Spyropoulou, Vasiliki A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-02-15), Heft 1, S. 314-322
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Qualification and Integration Aspects of the DSSC Mega-Pixel X-Ray Imager.
    Hansen, K. ; Klar, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-08-01), Heft 8, S. 1966-1975
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Investigation of the Performance of Scintillator-Based CMOS Flat Panel Detectors for X-Ray and Thermal Neutron Imaging.
    Bo Kyung Cha ; Jong Yul Kim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-06-02), Heft 3, S. 1409-1413
    Online academicJournal
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    Investigating Degradation Mechanisms in 130 nm and 90 nm Commercial CMOS Technologies Under Extreme Radiation Conditions.
    Ratti, Lodovico ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), Heft 4, S. 1992-2000
    Online academicJournal
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    A Radiation Hard Bandgap Reference Circuit in a Standard 0.13 μm CMOS Technology.
    Gromov, Vladimir ; Annema, Anne Johan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-02), Heft 6, S. 2727-2733
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Development of a Portable Digital Radiographic System Based on FOP-Coupled CMOS Image Sensor and Its Performance Evaluation.
    Cho, H. S. ; Jeong, M. H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-10-03), Heft 5, S. 1766-1772
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    RADIATION DOSIMETRY PROPERTIES OF SMARTPHONE CMOS SENSORS.
    Van Hoey, Olivier ; Salavrakos, Alexia ; et al.
    In: Radiation Protection Dosimetry, Jg. 168 (2016-03-01), Heft 3, S. 314-321
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Polycrystalline Mercuric Iodide Films on CMOS Readout Arrays.
    Hartsough, Neal E. ; Iwanczyk, Jan S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-01), Heft 4, S. 1810-1816
    Online academicJournal
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    Radiation effects on the resolution (MTF) of the scintillator coupled CMOS APS array imager for non-destructive test X-ray imaging
    Huyn Kim, Kwang ; Cho, Gyuseong
    In: Annals of Nuclear Energy, Jg. 31 (2004-05-01), Heft 7, S. 805-811
    academicJournal
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    Comparison of Ionizing Radiation Effects in 0.18 and 0.25 &um;m CMOS Technologies for Analog Applications.
    Manghisoni, Massimo ; Ratti, Lodovico ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 1827-1833
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Single Event Gate Rupture in 130-nm CMOS Transistor Arrays Subjected to X-Ray Irradiation.
    Silvestri, Marco ; Gerardin, Simone ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 4, S. 1842-1848
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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