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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Avalanche Transient Simulations of SPAD integrated in 28nm FD-SOI CMOS Technology
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Scopus ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) ; https://hal.science/hal-03622067 ; 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Sep 2021, Caen, France. ⟨10.1109/EuroSOI-ULIS53016.2021.9560679⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Single-event latchup modeling based-on coupled physical and electrical transient simulations in cmos technology
    Artola, L. ; Hubert, G. ; et al.
    In: NSREC 2014 ; https://hal-onera.archives-ouvertes.fr/hal-01070297 ; NSREC 2014, Jul 2014, PARIS, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Single-event latchup modeling based-on coupled physical and electrical transient simulations in cmos technology
    Artola, L. ; Hubert, G. ; et al.
    In: NSREC 2014 ; https://hal-onera.archives-ouvertes.fr/hal-01070297 ; NSREC 2014, Jul 2014, PARIS, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Electronical Beam Scanning Using Integrated CMOS Continuous 0°-360° Phase Shifter
    Tatinian, William ; Lanteri, Jérôme ; et al.
    In: International Conference on Antenna Measurements & Applications: Focus on Antenna Systems (CAMA 2014, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electronical Beam Scanning Using Integrated CMOS Continuous 0°-360° Phase Shifter
    Tatinian, William ; Lanteri, Jérôme ; et al.
    In: International Conference on Antenna Measurements & Applications: Focus on Antenna Systems (CAMA 2014, 2014
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evolution of low frequency noise and noise variability through CMOS bulk technology nodes
    Ioannidis, E.G. ; Haendler, S. ; et al.
    In: Proceedings of the 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations) ; https://hal.science/hal-01024616 ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations), Jun 2013, Montpellier, France. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2013.6578985⟩, 2013
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evolution of low frequency noise and noise variability through CMOS bulk technology nodes
    Ioannidis, E.G. ; Haendler, S. ; et al.
    In: Proceedings of the 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations) ; https://hal.science/hal-01024616 ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations), Jun 2013, Montpellier, France. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2013.6578985⟩, 2013
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evolution of low frequency noise and noise variability through CMOS bulk technology nodes
    Ioannidis, E.G. ; Haendler, S. ; et al.
    In: Proceedings of the 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01024616 ; ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations), Jun 2013, Montpellier, France. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2013.6578985⟩, 2013
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impacts of Technology Trends on Physical Attacks?
    Maurine, Philippe ; Guilley, Sylvain ; et al.
    In: COSADE 2017 - 8th International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01690188 ; COSADE 2017 - 8th International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, Apr 2017, Paris, France. pp.190-206, ⟨10.1007/978-3-319-64647-3_12⟩, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A highly parallel Turbo Product Code decoder without interleaving resource
    Leroux, Cédric ; Jego, Christophe ; et al.
    In: Signal Processing Systems, 2008. SiPS 2008. IEEE Workshop on ; https://hal.science/hal-00538606 ; Signal Processing Systems, 2008
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A highly parallel Turbo Product Code decoder without interleaving resource
    Leroux, Cédric ; Jego, Christophe ; et al.
    In: Signal Processing Systems, 2008. SiPS 2008. IEEE Workshop on ; https://hal.science/hal-00538606 ; Signal Processing Systems, 2008
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A highly parallel Turbo Product Code decoder without interleaving resource
    Leroux, Cédric ; Jego, Christophe ; et al.
    In: Signal Processing Systems, 2008. SiPS 2008. IEEE Workshop on ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00538606 ; Signal Processing Systems, 2008
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    2.5D integration of point-of-load DC/DC converter for minimized interconnection parasitics
    Martin, Christian ; Allard, Bruno ; et al.
    In: Proceedings of the 2016 IEEE International Conference on Electrical Systems for Aircraft, Railway, Ship Propulsion and Road Vehicles & International Transportation Electrification Conference ; ESARS-ITEC ; https://hal.science/hal-01648366 ; ESARS-ITEC, Nov 2016, Toulouse, France. ⟨10.1109/ESARS-ITEC.2016.7841407⟩, 2016
    Konferenz
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    2.5D integration of point-of-load DC/DC converter for minimized interconnection parasitics
    Martin, Christian ; Allard, Bruno ; et al.
    In: Proceedings of the 2016 IEEE International Conference on Electrical Systems for Aircraft, Railway, Ship Propulsion and Road Vehicles & International Transportation Electrification Conference ; ESARS-ITEC ; https://hal.science/hal-01648366 ; ESARS-ITEC, Nov 2016, Toulouse, France. ⟨10.1109/ESARS-ITEC.2016.7841407⟩, 2016
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    2.5D integration of point-of-load DC/DC converter for minimized interconnection parasitics
    Martin, Christian ; Allard, Bruno ; et al.
    In: Proceedings of the 2016 IEEE International Conference on Electrical Systems for Aircraft, Railway, Ship Propulsion and Road Vehicles & International Transportation Electrification Conference ; ESARS-ITEC ; https://hal.science/hal-01648366 ; ESARS-ITEC, Nov 2016, Toulouse, France. ⟨10.1109/ESARS-ITEC.2016.7841407⟩, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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