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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.science/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Characterization by OCT of a new kind of micro-interferometric components for the NanoCarb miniature imaging spectrometer
    Ehrhardt, Hélène ; Gousset, Silvère ; et al.
    In: Proc. of SPIE ; ICSO 2018 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02100077 ; ICSO 2018, Oct 2018, Chania, Greece, 2018
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; Guenery, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.science/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Indium-oxide nanoparticles for Ox-RRAM in CMOS back-end-off-line
    Leon Perez, Edgar ; GUENERY, Pierre-Vincent ; et al.
    In: EUROSOI-ULIS, 2017 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01701469 ; EUROSOI-ULIS, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    SWIFTS: on-chip very high spectral resolution spectrometer
    Le Coarer, E. ; Ferrand, J. ; et al.
    In: International Conference on Space Optics — ICSO 2010 ; https://hal.science/hal-01961148 ; International Conference on Space Optics — ICSO 2010, Oct 2010, Rhodes, Greece. ⟨10.1117/12.2309259⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    SWIFTS: on-chip very high spectral resolution spectrometer
    Le Coarer, E. ; Ferrand, J. ; et al.
    In: International Conference on Space Optics — ICSO 2010 ; https://hal.science/hal-01961148 ; International Conference on Space Optics — ICSO 2010, Oct 2010, Rhodes, Greece. ⟨10.1117/12.2309259⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    SWIFTS: on-chip very high spectral resolution spectrometer
    Le Coarer, E. ; Ferrand, J. ; et al.
    In: International Conference on Space Optics — ICSO 2010 ; https://hal.science/hal-01961148 ; International Conference on Space Optics — ICSO 2010, Oct 2010, Rhodes, Greece. ⟨10.1117/12.2309259⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
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