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    Failure Mode Analysis in Microsecond UV Laser Annealing of Cu Thin Films
    Demoulin, Rémi ; Daubriac, Richard ; et al.
    In: IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022 ; https://laas.hal.science/hal-03795894 ; IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022, Jun 2022, San José, California, United States. ⟨10.1109/iitc52079.2022.9881308⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Failure Mode Analysis in Microsecond UV Laser Annealing of Cu Thin Films
    Demoulin, Rémi ; Daubriac, Richard ; et al.
    In: IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022 ; https://laas.hal.science/hal-03795894 ; IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022, Jun 2022, San José, California, United States. ⟨10.1109/iitc52079.2022.9881308⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Failure Mode Analysis in Microsecond UV Laser Annealing of Cu Thin Films
    Demoulin, Rémi ; Daubriac, Richard ; et al.
    In: IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022 ; https://laas.hal.science/hal-03795894 ; IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 2022, Jun 2022, San José, California, United States. ⟨10.1109/iitc52079.2022.9881308⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.science/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.science/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.science/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.science/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.science/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Compression of 3D mesh sequences based on an adaptive 3D wavelet transformation
    Jafari, Kian ; Dupont, Florent ; et al.
    In: SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01381444 ; SPIE Electronic Imaging - 3D Image Processing (3DIP) and Applications, Feb 2010, San Jose, California, United States. pp.75260F, ⟨10.1117/12.838896⟩, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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