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    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS SFFDS PA with Coupled Transformer for High Power RF Applications
    Luque, Yohann ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: Proceding of ISCAS 2009 ; 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00363758 ; 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, May 2009, Taipei, Taiwan. 4 p, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology
    Haddadi, Kamel ; Loyez, Christophe ; et al.
    In: 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, IEEE I2MTC 2016 ; https://hal.science/hal-03224659 ; 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology
    Haddadi, Kamel ; Loyez, Christophe ; et al.
    In: 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, IEEE I2MTC 2016 ; https://hal.science/hal-03224659 ; 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology
    Haddadi, Kamel ; Loyez, Christophe ; et al.
    In: 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, IEEE I2MTC 2016 ; https://hal.science/hal-03224659 ; 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology
    Haddadi, Kamel ; Loyez, Christophe ; et al.
    In: 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, IEEE I2MTC 2016 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03224659 ; 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology
    Haddadi, Kamel ; Loyez, Christophe ; et al.
    In: 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, IEEE I2MTC 2016 ; https://hal.science/hal-03224659 ; 30th International Instrumentation and Meausurement Technology Conference, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Monopix chips: Depleted monolithic active pixel sensors with a column-drain read-out architecture for the ATLAS Inner Tracker upgrade
    Caicedo, I. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02065863 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06006, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06006⟩, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Monopix chips: Depleted monolithic active pixel sensors with a column-drain read-out architecture for the ATLAS Inner Tracker upgrade
    Caicedo, I. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02065863 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06006, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06006⟩, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Development of a charge pump for sensor biasing in a Serial Powering scheme for the ATLAS pixel detector upgrade
    Bhat, S. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02172608 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06014, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06014⟩, 2018
    Konferenz
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    The Monopix chips: Depleted monolithic active pixel sensors with a column-drain read-out architecture for the ATLAS Inner Tracker upgrade
    Caicedo, I. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02065863 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06006, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06006⟩, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Development of a charge pump for sensor biasing in a Serial Powering scheme for the ATLAS pixel detector upgrade
    Bhat, S. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02172608 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06014, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06014⟩, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Monopix chips: Depleted monolithic active pixel sensors with a column-drain read-out architecture for the ATLAS Inner Tracker upgrade
    Caicedo, I. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.science/hal-02065863 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06006, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06006⟩, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Monopix chips: Depleted monolithic active pixel sensors with a column-drain read-out architecture for the ATLAS Inner Tracker upgrade
    Caicedo, I. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02065863 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06006, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06006⟩, 2018
    Konferenz
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    Development of a charge pump for sensor biasing in a Serial Powering scheme for the ATLAS pixel detector upgrade
    Bhat, S. ; Barbero, M. ; et al.
    In: JINST ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02172608 ; 9th International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, Dec 2018, Taipei, Taiwan. pp.C06014, ⟨10.1088/1748-0221/14/06/C06014⟩, 2018
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