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    RELIABILITY CHARACTERIZATION OF A 3-μm CMOS/SOS PROCESS.
    Dugan, M. Patrick
    In: Quality & Reliability Engineering International, Jg. 3 (1987-04-01), Heft 2, S. 99-105
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Bytes : Kodak and Motorola combine to develop Advanced CMOS.
    In: The Independent (London, England) (1996), 1997-06-24, S. 6
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
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    Avant! develops silicon early access methodology for Fujitsu Limited; Avant!'s advanced IP services develop methodology to produce early SPICE models for 0.13-Micron CMOS process using Avant!'s TCAD-to-ECAD simulation tools.
    In: M2 Presswire, 2001-04-18
    Zeitungsartikel
    Wie komme ich dran?
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    CAcT$\mu$S: High-Voltage CMOS Monolithic Active Pixel Sensor for Tracking and Time Tagging of Charged Particles
    Guilloux, Fabrice ; Balli, Fabrice ; et al.
    In: PoS ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics ; https://hal.science/hal-02058452 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics, Sep 2017, Santa Cruz, United States. pp.023, ⟨10.22323/1.313.0023⟩, 2017
    Konferenz
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    imec demonstrates hyperspectral CMOS camera.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 52 (2013-04-01), Heft 4, S. 6-6
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Why CES has become a CMO playground.
    Lashinsky, Adam
    In: Fortune.com, 2014-01-11, S. 1-1
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
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    NIST and SRC Research Replacement for CMOS FET.
    In: Printed Circuit Design & Manufacture, Jg. 24 (2007-10-01), Heft 10, S. 8-8
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    6000 Element Infrared Focal plane array for reconnaissance applications
    LANGE, D. A ; VU, P ; et al.
    In: Airborne reconnaissance XXIII (Denver CO, 20-21 July 1999), 1999, S. 145-158
    Konferenz
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    CHIPS IN SPACE: On-The-Fly Intelligence.
    Tuite, Don
    In: Electronic Design, Jg. 52 (2004-08-23), Heft 18, S. 48-53
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Opto:A Marriage Of Optics And Semis.
    In: Electronic Design, Jg. 55 (2008-05-08), Heft 9, S. 35-38
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Patent Abstracts.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 41 (2006-11-01), Heft 11, S. 2610-2622
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Designing radio systems for the future.
    Neuvo, Yrjöo
    In: Electronic Engineering Times (01921541), 2004-02-16, Heft 1308, S. 52-55
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Sensors shoot for cameras.
    Lapedus, Mark
    In: Electronic Engineering Times (01921541), 2006-02-13, Heft 1410, S. 6-7
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Nano research deficit threatens US defence, says IBMexecutive.
    Manners, David
    In: Electronics Weekly, 2004-06-16, Heft 2151, S. 8-8
    Online serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The LiTE-DTU: A Data Conversion and Compression ASIC for the Readout of the CMS Electromagnetic Calorimeter
    Mazza, Giovanni ; Argirò, Stefano ; et al.
    In: IEEE Trans.Nucl.Sci. ; 23rd IEEE Real Time Conference ; https://hal.science/hal-04145374 ; 23rd IEEE Real Time Conference, Aug 2022, Online, United States. pp.1215-1222, ⟨10.1109/TNS.2023.3274930⟩, 2022
    Konferenz
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    From the labs.
    In: Electronic Design, Jg. 48 (2000-06-26), Heft 13, S. 42-42
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    On-Chip Processors Turn Monolithic ADCs Into Data-Acquisition Systems.
    Bindra, Ashok
    In: Electronic Design, Jg. 48 (2000-04-03), Heft 7, S. 79
    Online serialPeriodical
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    Incremental giant leaps.
    Wirbel, Loring
    In: Electronic Engineering Times (01921541), 1998-02-23, Heft 994, S. 53-53
    Online serialPeriodical
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    Advances in test program automation.
    Bonnin, Christian
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 46 (2007-07-01), Heft 7, S. 12-15
    Online serialPeriodical
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Industry consortium tasked with developing silicon on insulator sensors for harsh environments.
    In: EE-Evaluation Engineering, Jg. 51 (2012-03-01), Heft 3, S. 6-6
    Online serialPeriodical
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    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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