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    Towards quantitative laser-induced breakdown spectroscopy analysis of soil samples
    Bousquet, B. ; Sirven, J. B. ; et al.
    In: 4th International Conference on Laser-Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS 2006) ; https://hal.science/hal-01552896, 2006
    Konferenz
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    Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
    Devès, Guillaume ; Cohen-Bouhacina, T. ; et al.
    In: 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; https://hal.science/hal-01550929 ; 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, 2003
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
    Devès, Guillaume ; Cohen-Bouhacina, T. ; et al.
    In: 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; https://hal.science/hal-01550929 ; 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, 2003
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
    Devès, Guillaume ; Cohen-Bouhacina, T. ; et al.
    In: 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; https://hal.science/hal-01550929 ; 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, 2003
    Konferenz
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    Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
    Devès, Guillaume ; Cohen-Bouhacina, T. ; et al.
    In: 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; https://hal.science/hal-01550929 ; 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, 2003
    Konferenz
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    Determination of passive SiO2-Au microstructure resonant frequencies
    Marinier, G. ; Dilhaire, S. ; et al.
    In: 14th European Symposium on Raliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ; https://hal.science/hal-01550874 ; 14th European Symposium on Raliability of Electron Devices, 2003
    Konferenz
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    Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
    Devès, Guillaume ; Cohen-Bouhacina, T. ; et al.
    In: 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; https://hal.science/hal-01550929 ; 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, 2003
    Konferenz
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    Measurement of the thermomechanical behaviour of the solder-lead interface in solder joints by laser probing: a new method for measuring the bond quality
    Dilhaire, S. ; Cornet, A. ; et al.
    In: 9th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 98) ; https://hal.science/hal-01550279 ; 9th European Symposium on Reliability of Electron Devices, 1998
    Konferenz
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    SECONDARY FLUORESCENCES OF 4'-(1-PYRENYL)ACETOPHENONE AND PARA-DIMETHYLAMINOACETOPHENONE
    Dobkowski, J. ; Rettig, W. ; et al.
    In: 3rd International Meeting on Pulse Investigations in Physics, Chemistry and Biology ( Puls 91 ) ; https://hal.science/hal-01549524 ; 3rd International Meeting on Pulse Investigations in Physics, 1991
    Konferenz
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    PICOSECOND TIME-RESOLVED SPECTROSCOPY (EMISSION AND ABSORPTION) REVEALS FAST MOLECULAR CONFORMATIONAL-CHANGES OF EXCITED-STATES
    Rulliere, C. ; Declemy, A. ; et al.
    In: 2nd International Meeting on Pulse Investigations in Physics, Chemistry and Biology ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01549283 ; 2nd International Meeting on Pulse Investigations in Physics, 1988
    Konferenz
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