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In: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01025022 ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 59 (5), pp.1279-1285. ⟨10.1109/TED.2012.2186969⟩, 2013academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01025022 ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 59 (5), pp.1279-1285. ⟨10.1109/TED.2012.2186969⟩, 2013academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01025022 ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 59 (5), pp.1279-1285. ⟨10.1109/TED.2012.2186969⟩, 2013academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01025022 ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 59 (5), pp.1279-1285. ⟨10.1109/TED.2012.2186969⟩, 2013academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01025022 ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 59 (5), pp.1279-1285. ⟨10.1109/TED.2012.2186969⟩, 2013academicJournalZugriff: