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In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 6, S. 707-714Online academicJournalZugriff:
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In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1Online KonferenzZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 1, S. 45-55Online academicJournalZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 10, S. R75- (34S.)Online academicJournalZugriff:
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In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1Online KonferenzZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 12 (1997), Heft 7, S. 933-937Online academicJournalZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 22 (2007), Heft 2, S. 54-64Online academicJournalZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 21 (2006), Heft 12, S. 1552-1556Online academicJournalZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 20 (2005), Heft 12, S. R65- (20S.)Online academicJournalZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 11, S. 945-949Online academicJournalZugriff:
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In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1Online KonferenzZugriff:
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In: Semiconductor science and technology, Jg. 10 (1995), Heft 2, S. 190-196Online academicJournalZugriff: