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    Depth profiling of nanometer thin layers by laser desorption and laser postionization time-of-flight mass spectrometry
    Huang, Benli ; Liu, Rong ; et al.
    In: Journal of Analytical Atomic Spectrometry, Jg. 32 (2017), S. 1878-1884
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Molecular ionization probability in cluster-sims
    Wucher, Andreas
    2018
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Ionization Probability in Molecular Secondary Ion Mass Spectrometry: Protonation Efficiency of Sputtered Guanine Molecules Studied by Laser Postionization
    Wucher, Andreas ; Breuer, Lars ; et al.
    In: The Journal of Physical Chemistry C, Jg. 121 (2017-04-18), S. 8931-8937
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    On the SIMS Ionization Probability of Organic Molecules
    Winograd, Nicholas ; Wucher, Andreas ; et al.
    In: Journal of the American Society for Mass Spectrometry, Jg. 28 (2017-03-06), S. 1182-1191
    Online unknown
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    Improved detection sensitivity of elements in solids via laser postionization in laser desorption time-of-flight mass spectrometry
    Yin, Zhibin ; Huang, Benli ; et al.
    In: Journal of mass spectrometry : JMS, Jg. 53 (2017-12-13), Heft 5
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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