Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- cmos-schaltung 43 Treffer
- fehlererkennung 34 Treffer
- vlsi-schaltung 24 Treffer
- komplementare mos-schaltung 21 Treffer
- fehleranalyse 19 Treffer
-
45 weitere Werte:
- cmos-technik 16 Treffer
- fehlersimulation 16 Treffer
- fehlerortung 14 Treffer
- testbarkeit 13 Treffer
- algorithmus 12 Treffer
- modelluntersuchung 12 Treffer
- fehlerdiagnose 11 Treffer
- selbsttest 11 Treffer
- logikpruefung 10 Treffer
- schaltungssimulation 10 Treffer
- kombinatorisches netzwerk 9 Treffer
- prufverfahren 9 Treffer
- schaltungsentwurf 9 Treffer
- schaltungslogik 9 Treffer
- digitale integrierte schaltung 8 Treffer
- funktionsprufung 8 Treffer
- integrierte verknuepfungsschaltung 8 Treffer
- komplementaere mos-schaltung 8 Treffer
- layout 8 Treffer
- automatische pruefung 7 Treffer
- benchmark-test 7 Treffer
- pruefung integrierter schaltungen 7 Treffer
- zuverlassigkeit 7 Treffer
- experimentelles ergebnis 6 Treffer
- fehler 6 Treffer
- fehlersuche 6 Treffer
- gate-schaltung 6 Treffer
- implementierung 6 Treffer
- kurzschluss 6 Treffer
- pruefung 6 Treffer
- rechnerunterstutzter schaltungsentwurf 6 Treffer
- transistor 6 Treffer
- analoge integrierte schaltung 5 Treffer
- eingebaute prufeinrichtung 5 Treffer
- fehlertolerantes system 5 Treffer
- modellsimulation 5 Treffer
- prufung integrierter schaltungen 5 Treffer
- redundanz 5 Treffer
- verknupfungsschaltung 5 Treffer
- ausbeute 4 Treffer
- automatische prufung 4 Treffer
- fehlerkorrektur 4 Treffer
- fehlerwahrscheinlichkeit 4 Treffer
- fet-gate 4 Treffer
- logikprufung 4 Treffer
Publikation
- ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 8 Treffer
- ieee journal of solid-state circuits 4 Treffer
- ieee transactions on nanotechnology 4 Treffer
- microelectronics and reliability 4 Treffer
- microelectronics reliability 4 Treffer
-
45 weitere Werte:
- tema technik und management 4 Treffer
- iee proceedings - circuits, devices and systems 3 Treffer
- ieee international test conference, 23 3 Treffer
- wmt, ieee international workshop on memory testing, 1993 3 Treffer
- arbeitspapiere der gmd (gesellschaft fur mathematik und datenverarbeitung) 2 Treffer
- ariadne-workshop, 2 2 Treffer
- edac. proceedings of the european design automation conference 2 Treffer
- ieee design and test of computers 2 Treffer
- international test conference 1989. proceedings. meeting the tests of time 2 Treffer
- journal of electronic testing 2 Treffer
- 17th euromicro symposium on microprocessing and microprogramming. hardware and software design automation, 2-5 sept. 1991, vienna, austria 1 Treffer
- acm journal on emerging technologies in computing 1 Treffer
- annual ieee vlsi test symposium, 11 1 Treffer
- befo betriebsfuhrung und -organisation 1 Treffer
- dft, defect and fault tolerance in vlsi systems, ieee international workshop, 1994 1 Treffer
- edac etc euroasic, european design and test conference, 1994 1 Treffer
- edac. proceedings of the european conference on design automation 1 Treffer
- edac. proceedings of the european design automation conference, 12-15 march 1990, glasgow, uk 1 Treffer
- electronics letters 1 Treffer
- elektronik, poing 1 Treffer
- euromicro, euromicro symposium on microprocessing and microprogramming, 18 1 Treffer
- fortschritt-berichte vdi, reihe 9: elektronik/mikro- und nanotechnik 1 Treffer
- gmd-studien 1 Treffer
- hewlett packard journal 1 Treffer
- ibm journal of research and development 1 Treffer
- icmeet, international conference on microelectronics, electromagnetics and telecommunications, 2 1 Treffer
- icwsi, annual ieee international conference on wafer scale integration, 7 1 Treffer
- iee proceedings - computers and digital techniques 1 Treffer
- iee proceedings, part e (computers and digital techniques) 1 Treffer
- iee proceedings, part g (circuits, devices and systems) 1 Treffer
- ieee international conference on computer design: vlsi in computers and processors, 1992 1 Treffer
- ieee international symposium on circuits and systems 1 Treffer
- ieee international symposium on circuits and systems. proceedings 1 Treffer
- ieee international symposium on multiple-valued logic, 29 1 Treffer
- ieee international test conference, 1994 1 Treffer
- ieee international workshop on defect and fault tolerance in vlsi systems, 1992 1 Treffer
- ieee transactions on computer aided design of integrated circuits and systems 1 Treffer
- ieice transactions on information and systems 1 Treffer
- integrated circuit and system design, patmos, international workshop: power and timing modeling, optimization and simulation, 16 1 Treffer
- international journal of electronics 1 Treffer
- istfa, international symposium for testing and failure analysis, 18 1 Treffer
- microelectronics, electromagnetics and telecommunications, icmeet, international conference on microelectronics, electromagnetics and telecommunications, 2015 1 Treffer
- midem, international conference on microelectronics, devices and materials, 43 1 Treffer
- mikroelektronik - mikrosysteme: sican-herbsttagung, 4 1 Treffer
- newcas, ieee international new circuits and systems conference, 12, newcas, ieee international new circuits and systems conference, 13 1 Treffer
Sprache
97 Treffer
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff: