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1.729 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Highly Reliable Nanoelectrothermal Non-Volatile Memory with CMOS-level Voltage and Low On-State Resistance
    Lee, Yong-Bok ; Choi, Pan-Kyu ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 525-528
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    UV-C Light Detection with High Performance Photodiodes Integrated in a $\mathbf{0.18}\ \boldsymbol{\mu} \mathbf{m}$ Modular CMOS Foundry Technology
    Gabler, Daniel ; Siles, Pablo F. ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Nanowatt Low Voltage Subthreshold CMOS Voltage Reference Based On 2-T
    Dehghan, Nima ; Yavari, Mohammad
    In: 2023 5th Iranian International Conference on Microelectronics (IICM), 2023-10-25, S. 21-25
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Time- and spectrally-resolved mesoscopic Raman and fluorescence imaging of carious enamel by a CMOS SPAD-based spectrometer
    Kekkonen, Jere ; Talala, Tuomo ; et al.
    In: 2023 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2023-05-22, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A 2.4 GHz Doherty Power Amplifier Based on Voltage Combining in 22 nm CMOS
    Du, Jiancong ; Li, Zhiqun ; et al.
    In: 2023 12th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), 2023-06-28, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Special Session: Neuromorphic hardware design and reliability from traditional CMOS to emerging technologies
    Pavanello, Fabio ; Vatajelu, Elena Ioana ; et al.
    In: 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023-04-24, S. 1-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Reliability Studies on Advanced FinFET Transistors of the Intel 4 CMOS Technology
    Jamil, M. ; Mukhopadhay, S. ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    CMOS FD-SOI Technologies Ruggedness for Millimeter Wave Power Amplifier Design
    Martineau, B. ; Bossuet, A. ; et al.
    In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2022-10-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    High Peformance 3D Flash Memory with 3.2Gbps Interface and 205MB/s Program Throughput based on CBA(CMOS Directly Bonded to Array) Technology
    Kobayashi, S. ; Tashiro, K. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 24/48 Gb/s NRZ/PAM-4 Dual-Mode Transmitter with 3-tap FFE in 28 nm CMOS
    Zhou, Jiaxu ; Jin, Jing ; et al.
    In: 2023 IEEE 15th International Conference on ASIC (ASICON), 2023-10-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The Influence of Metal Barrier Punch Through Process on Dielectric Reliability at 55 nm CMOS Node
    Xu, Chenxiao ; Zhou, Luhao ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Reliable 5G Stacked Power Amplifier in 45nm CMOS Technology
    Ma, Zhize ; Mohammadi, Saeed
    In: 2023 IEEE Topical Conference on RF/Microwave Power Amplifiers for Radio and Wireless Applications, 2023-01-22, S. 36-38
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    An Integrated Wearable Bio-Impedance Spectroscopy System for Remote Monitoring Heart Failure in 65nm CMOS Technology
    Ghouchani, Arman ; Sharifkhani, Mohammad
    In: 2023 5th Iranian International Conference on Microelectronics (IICM), 2023-10-25, S. 97-101
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis and Optimization of the Packaging Process for Supper Large-size CMOS Image Sensor
    Zheng, Dan ; Yang, Daoguo ; et al.
    In: 2022 23rd International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT), 2022-08-10, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Enhancing the Reliability of Hybrid MTJ/CMOS Circuits with Auto Write Termination
    Rajpoot, Jagadish ; Gupta, Meghna ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    High Performance and DNU-Recovery Spintronic Retention Latch for Hybrid MTJ/CMOS Technology
    Yan, Aibin ; Zhou, Zhen ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Investigation of 0.18μm CMOS Sensitivity to BTI and HCI Mechanisms under Extreme Thermal Stress Conditions
    Tran, Yen ; Nomura, Toshihiro ; et al.
    In: 2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021-11-01, S. 97-102
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Integration And HCI Improvement In Deep Sub-Micro CMOS process
    Wang, Dejin ; Zhou, Yaohui ; et al.
    In: 2022 10th International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE), 2023-05-12, S. 1-3
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS RF reliability for 5G mmWave applications - Challenges and Opportunities
    Srinivasan, P. ; Guarin, F.
    In: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021-03-01, S. 1-7
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Reliability of SPST Series-stacked SOI CMOS RF Switches for mmWave Applications
    Rathi, Aarti ; Dixit, Abhisek ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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