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    (Invited) On the Potential of Lateral BJTs and SiGe HBTs in Advanced CMOS Technologies
    Koricic, Marko ; Osrecki, Zeljko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 98 (2020-09-08), S. 111-117
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    (Invited) Pixel-Parallel CMOS Image Sensors with 16-Bit A/D Converters Developed by 3-D Integration of SOI Layers with Au/SiO2 Hybrid Bonding
    Hiramoto, Toshiro ; Honda, Yuki ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 72 (2016-04-25), S. 3-6
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    Three-Dimensional Integration of Fully Depleted Silicon-on-Insulator Transistor Substrates for CMOS Image Sensors Using Au/SiO2 Hybrid Bonding and XeF2 Etching
    Saraya, Takuya ; Hiramoto, Toshiro ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-14), S. 391-396
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    Challenges and Solutions of Extremely Thin SOI (ETSOI) for CMOS Scaling to 22nm Node and Beyond
    Schmitz, Stefan ; Shahidi, Ghavam G. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 951-957
    Online unknown
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    Impact of Radiation on the Operation and Reliability of Deep Submicron CMOS Technologies
    Simoen, Eddy ; Claeys, Cor ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 39-46
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    (Invited) Advanced FinFET Technologies: Extension Doping, Vth Controllable CMOS Inverters and SRAM
    Sakamoto, Kunihiro ; Matsukawa, Takashi ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 385-401
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    Very High Performance CMOS on Si(551) Surface using Radical Oxidation Silicon Flattening Technology and Accumulation-mode SOI Device Structure
    Ohmi, Tadahiro ; Cheng, Weitao ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 25 (2009-09-25), S. 115-129
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    Uniaxially Strained SGOI and SSOI Channels for High Performance Multi-Gate CMOS
    Numata, Toshinori ; Moriyama, Yoshihiko ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 367-379
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    CMOS Compatible RF MEMS Switches with Serpentine Springs
    Rainey, Paul ; Gamble, Harold ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), S. 9-14
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    Performance Assessment of Ge-on-SOI-photodetector / Si-CMOS Receivers for High-Speed Optical Communications
    Chu, Jack O. ; Schares, Laurent ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 99-109
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Front-End Process Technology for hp65/45 CMOS Devices
    Nara, Yasuo ; Ootsuka, Fumio ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 2 (2006-04-28), S. 27-31
    Online unknown
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    New Capacitorless Dynamic Memory Compatible with SOI and Bulk CMOS
    Rodriguez, Noel ; Cristoloveanu, Sorin ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 195-200
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    Comparison Between Harmonic Distortion in Circular Gate and Conventional SOI nMOSFET Using 0.13 µm Partially-Depleted SOI CMOS Technology
    Salvador Pinillos Gimenez ; Leandro Poloni Dantas
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 85-96
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    Early Voltage Behavior in Circular Gate SOI nMOSFET Using 0.13 μm Partially-Depleted SOI CMOS Technology
    Joao Antonio Martino ; Ferreira, Rodrigo M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 4 (2007-11-21), S. 309-318
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    Study of the Drain Leakage Current Behavior in Circular Gate SOI nMOSFET Using 0.13μm SOI CMOS Technology at High Temperatures
    Almeida, L. M. ; Bellodi, Marcello
    In: ECS Transactions, Jg. 9 (2007-09-21), S. 397-404
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    Integration Challenges for Advanced Process-Strained CMOS on Biaxial-Strained-SOI (SSOI) Substrates
    Boschke, Roman ; Duenkel, Stefan ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 6 (2007-04-27), S. 15-22
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    Effect of Inductively Coupled Electromagnetic Field on Bottom Oxide Etch in a High Aspect Ratio Trench
    Redolfi, Augusto ; Sardo, Stefano ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 102 (2021-05-07), S. 117-123
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    (Invited) SOI Technologies from Microelectronics to Microsystems - Meeting the More than Moore Roadmap Requirements
    Raskin, Jean-Pierre
    In: ECS Transactions, Jg. 49 (2012-08-30), S. 15-23
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    (Invited) Optoelectronic Monolithic Integration of Waveguided Metal-Germanium-Metal Photodetector and Ge CMOSFETs on SOI Wafer
    Zang, H. ; Ji Hyun Wang ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 573-577
    Online unknown
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    (Invited) Future Challenges and Diversifications for Nanoelectronics by the End of the Roadmap and Beyond
    Fedeli, J-M. ; Robert, Philippe ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 31 (2010-10-01), S. 3-12
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