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  1. Chiang, Cheng-Ta
    In: 2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference Proceedings, 2010-05-01, S. 560-563
    Konferenz
  2. Hernandez, Luis ; Wiesbauer, Andreas
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 1069-1072
    Konferenz
  3. Sung, Guo-Ming ; Chang, Kuo-Hsuan ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 5573-5576
    Konferenz
  4. Shen, Weilun ; Hu, Kangmin ; et al.
    In: 2005 6th International Conference on ASIC, Jg. 2 (2005), S. 626-629
    Konferenz
  5. Khumsat, P. ; Worapishet, A. ; et al.
    In: 9th International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Jg. 1 (2002), S. 323-326
    Konferenz
  6. Cheung, V.S.L. ; Luong, H.C.
    In: 2004 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.04CH37525), 2004, S. 84-87
    Konferenz
  7. Kiyoyama, K. ; Onoda, M. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 1940-1943
    Konferenz
  8. Lindeberg, J. ; Vankka, J. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2004 Custom Integrated Circuits Conference (IEEE Cat. No.04CH37571), 2004, S. 159-162
    Konferenz
  9. Benabid, S. ; Najafi Aghdam, E. ; et al.
    In: Proceedings of the Fifth IEEE International Caracas Conference on Devices, Circuits and Systems,, Jg. 1 (2004), S. 51-55
    Konferenz
  10. Fortier, J. ; Tarr, N.G. ; et al.
    In: Proceedings of the 27th European Solid-State Circuits Conference, 2001, S. 105-108
    Konferenz
  11. Kappes, M.S. ; Jensen, H. ; et al.
    In: Proceedings of the 28th European Solid-State Circuits Conference, 2002, S. 279-282
    Konferenz
  12. Grilo, J. ; Huang, Y. ; et al.
    In: Proceedings of 40th Midwest Symposium on Circuits and Systems. Dedicated to the Memory of Professor Mac Van Valkenburg, Jg. 1 (1997), S. 172-176
    Konferenz
  13. Lee, Tsung-Sum ; Lin, Wen-Bin ; et al.
    In: Proceedings of 2004 IEEE Asia-Pacific Conference on Advanced System Integrated Circuits, 2004, S. 28-31
    Konferenz
  14. del Rio, R. ; de la Rosa, J.M. ; et al.
    In: Proceedings Design, Automation and Test in Europe. Conference and Exhibition 2001, 2001, S. 348-352
    Online Konferenz
  15. Si, W. W. ; Weber, D. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 43 (2008-12-01), Heft 12, S. 2896-2904
    Online academicJournal
  16. Kuo, C. H. ; Shi, D. Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 57 (2010-09-01), Heft 9, S. 2450-2461
    Online academicJournal
  17. Leme, C.A. ; Franca, J.E.
    In: 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 1 (1997), S. 453-456
    Konferenz
  18. Yousry, R. ; Hegazi, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 9, S. 2469-2482
    Online academicJournal
  19. Safi-Harb, M. ; Roberts, G.W.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 52 (2005-10-01), Heft 10, S. 2075-2089
    Online academicJournal
  20. Furth, P.M. ; Ommani, H.A.
    In: Proceedings of 40th Midwest Symposium on Circuits and Systems. Dedicated to the Memory of Professor Mac Van Valkenburg, Jg. 1 (1997), S. 156-159
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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