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In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1Online KonferenzZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 57 (2010), Heft 9, S. 2067-2072Online academicJournalZugriff: