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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    CMOS Image Sensor With Micro–Nano Holes to Improve NIR Optical Efficiency: Holes on Top Surface Versus on Bottom
    Devine, Ekaterina Ponizovskaya ; Ahamed, Ahasan ; et al.
    In: IEEE sensors journal, Jg. 23 (2023), Heft 17, S. 19256-19261
    Online serialPeriodical
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    4‐3: MircoLED display on 300mm CMOS platform – crosstalk and optical outcoupling
    Steudel, Soeren ; Vertommen, Johan ; et al.
    In: Digest of technical papers, Jg. 54 (2023), Heft 1, S. 25-28
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    11‐2: A 9 kfps 1411 PPI GaN‐based µLED Display CMOS Backplane
    Canals, Joan ; Moro, Victor ; et al.
    In: Digest of technical papers, Jg. 54 (2023), Heft 1, S. 125-128
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    Single-Slope ADC With Embedded Convolution Filter for Global-Shutter CMOS Image Sensors
    Klosowski, Miron ; Sun, Yichuang ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3258-3262
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    A Wideband Low-Loss CMOS Attenuator With dB-Linear Gain Tuning for W-Band Applications
    Gu, Peng ; Zhao, Dixian ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3308-3312
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    A Ku-Band CMOS Balanced Driver Amplifier With Transformer-Based Notch Filter for SATCOM Phased Arrays
    Yang, Mengru ; Zhao, Dixian ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3318-3322
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    A VCO-Based ADC With Inherent Mixing Capability and Local Oscillator Suppression in 55-nm CMOS
    Medina, Victor ; Garvi, Ruben ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3338-3342
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    A DC-87.8-GHz Switched-Type Attenuator With Switched Capacitor Branch in 40-nm CMOS
    Gao, Weihan ; Gu, Peng ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3253-3257
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    A 1.46–1.96-dB-NF 2.1–5.2-GHz Wideband Passive Balun LNA in 22-nm CMOS
    Wang, Xiaowei ; Li, Zhiqun ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3378-3382
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    Design of Time-Encoded Spiking Neural Networks in 7-nm CMOS Technology
    Widmer, Sandro ; Kossel, Marcel ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3639-3643
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    TFET-Based Pixel Source Follower of CMOS Image Sensor for Improved Linearity and High Signal-to-Noise Ratio
    Lee, Haewon ; Yun, Ilgu
    In: IEEE sensors journal, Jg. 23 (2023), Heft 17, S. 19239-19244
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    CMOS Image Sensor With Micro–Nano Holes to Improve NIR Optical Efficiency: Holes on Top Surface Versus on Bottom
    Devine, Ekaterina Ponizovskaya ; Ahamed, Ahasan ; et al.
    In: IEEE sensors journal, Jg. 23 (2023), Heft 17, S. 19256-19261
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    Multi‐Stage CMOS OTA Frequency Compensation: Genetic algorithm approach
    Bandari, Mohammad Ali ; Tavakoli, Mohammad Bagher ; et al.
    In: ETRI journal, Jg. 45 (2023), Heft 4, S. 690-703
    Online serialPeriodical
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    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Physical Insights on Current Dynamics of RESURF DeMOS Designed for High-Frequency CMOS Level Shifter Application
    Pali, Shraddha ; Gupta, Ankur
    In: IETE technical review, Jg. 40 (2023), Heft 5, S. 611-620
    serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    Combining n-MOS Charge Sensing with p-MOS Silicon Hole Double Quantum Dots in a CMOS platform
    Jin, Ik Kyeong ; Kumar, Krittika ; et al.
    In: Nano letters, Jg. 23 (2023), Heft 4, S. 1261-1266
    serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    Pixel-Parallel Three-Layer Stacked CMOS Image Sensors Using Double-Sided Hybrid Bonding of SOI Wafers
    Goto, Masahide ; Honda, Yuki ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 4705-4711
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    An Over 140 dB Dynamic Range CMOS Image Sensor Combined DCG and Logarithmic Response
    Lou, Shanshan ; Qu, Yang ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 4719-4724
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Capacitive Deep Trench Isolation-Based CCD-on-CMOS Image Sensor Sensitivity to Total Ionizing Dose
    Salih Alj, Antoine ; Touron, Pierre ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 8, S. 2018-2026
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  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    Calibration of the Deposited Energy in CMOS Imagers for Particle Detection on Nanosatellites
    Florczak, Josua ; Neubert, Tom ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 8, S. 1966-1972
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Study of Proton-Induced Defects in 40-nm CMOS SPADs
    Jouni, Ali ; Malherbe, Victor ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 8, S. 1680-1686
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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