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  1. Hsiao, Sen-Wen ; Tzou, Nicholas ; et al.
    In: 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS), 2013-04-01, S. 1-6
    Konferenz
  2. Yong, K. ; Ye, H. ; et al.
    In: Proceedings of the 33rd Chinese Control Conference, 2014-07-01, S. 4997-5002
    Konferenz
  3. Li, Y. ; Lu, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 59 (2012-09-01), Heft 9, S. 3561-3571
    Online academicJournal
  4. Li, J. H. ; Lee, M. J. ; et al.
    In: 2012 Oceans - Yeosu, OCEANS, 2012-05-01, S. 1-7
    Konferenz
  5. Lim, S. ; Fan, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 57 (2010-12-01), Heft 12, S. 4085-4094
    Online academicJournal
  6. Budovsky, I. ; Hagen, T.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 58 (2009-04-01), Heft 4, S. 844-847
    Online academicJournal
  7. Fujiki, H.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 57 (2008-09-01), Heft 9, S. 1992-1997
    Online academicJournal
  8. Free, G. M. ; Lipe, T. E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 56 (2007-04-01), Heft 2, S. 341-345
    Online academicJournal
  9. Wenzhi, Liu ; Yongzhi, Gong ; et al.
    In: 2009 International Conference on Information Technology and Computer Science, Jg. 2 (2009-07-01), S. 571
    Konferenz
  10. Georgakopoulos, D.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 60 (2011-07-01), Heft 7, S. 2178-2183
    Online academicJournal
  11. In: IEEE Std 1857.5-2015, 2017-01-30, S. 1-156
    Richtlinie
  12. Yu, B. ; Shu, W.
    In: IEEE Access, Jg. 5 (2017), S. 15542-15542
    Online academicJournal
  13. Kanoun, Moez ; Berube-Lauziere, Yves ; et al.
    In: 2008 3rd International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2008-03-01, S. 1
    Konferenz
  14. In: IEEE P1857.5/D2, January 2015, 2015-09-15, S. 1-153
    Richtlinie
  15. In: IEEE P1857.5/D3, September 2015, 2015, S. 1-155
    Richtlinie
  16. Jiang, Minbo ; Song, Zhiwei ; et al.
    In: 2023 8th International Conference on Communication, Image and Signal Processing (CCISP), 2023-11-17, S. 334-339
    Konferenz
  17. Siddique, Md. Abu Bakkar ; Islam, Md. Jakirul
    In: 2023 International Conference on Next-Generation Computing, IoT and Machine Learning (NCIM), 2023-06-16, S. 1-6
    Konferenz
  18. Fu, Tsu-Jui ; Yu, Licheng ; et al.
    In: 2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2023-06-01, S. 10681-10692
    Online Konferenz
  19. Bedawy, Ahmed ; Ryuta, Kubo ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Devices, Circuits and Systems (ISDCS), Jg. 1 (2023-05-29), S. 1-5
    Konferenz
  20. Zhang, Yifan ; Li, Yitong ; et al.
    In: 2023 11th International Conference on Power Electronics and ECCE Asia (ICPE 2023 - ECCE Asia), 2023-05-22, S. 1294-1301
    Konferenz
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