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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    NanoXCT—A High-Resolution Technique For TSV Characterization
    Zschech, Ehrenfried ; Krueger, Peter ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    Dynamical X-ray Microscopy Study of Stress-Induced Voiding in Cu Interconnects
    Heim, S. ; Friedrich, D. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    X-Ray Microscopy at BESSY: From Nano-Tomography to Fs-Imaging
    Eichert, D. ; Heim, S. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    A High Resolution Full Field Transmission X-ray Microscope at SSRL
    Marjolein C. H. van der Meulen ; Yun, Wenbing ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    X-ray Microscopy Studies of Electromigration in Advanced Copper Interconnects
    Schneider, G. ; Zschech, E. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2006
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Imaging magnetic structures with a transmission X-ray microscope
    Guttmann, P. ; Bayreuther, G. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2000
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    X-ray microscopy study of bone mineralization
    Kaulich, B. ; Vico, L. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2000
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    X-ray microscopic studies of labeled nuclear cell structures
    Rudolph, D. ; Lucchesi, John C. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2000
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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