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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    (Invited) Commercial CMOS-Integrated RF-MEMS
    Morris, Art ; Cunningham, Shawn J.
    In: ECS Transactions, Jg. 53 (2013-05-03), S. 255-263
    Online unknown
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    (Invited) Heterogeneous Integration of InP HBTs on CMOS: Leveraging and Providing Value to Conventional Silicon Technologies
    Le, Dustin ; Royter, Yakov ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 1047-1054
    Online unknown
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  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    Simulations of FDSOI CMOS with Sharing Contact between Source/Drain and Back Gate
    Yin, Haizhou ; Chen, Dapeng ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 34 (2011-03-21), S. 43-48
    Online unknown
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  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    (Invited) Changing Front-End Dielectric Requirements for End-of-the-Roadmap CMOS and Beyond
    Shi, Ningyu ; Hasan, M.M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 3-17
    Online unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    Introduction of New Materials into CMOS Devices
    Iwai, Hiroshi
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2012), Heft No. 5, S. 13-20
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    (Invited) Materials Integration for III-V/SiGe+CMOS Integrated Circuit Platforms
    Fitzgerald, Eugene A.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 1033-1037
    Online unknown
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  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    (Keynote) Unipolar CMOS Logic for Post-Si ULSI and TFT Technologies
    Ma, T. P. ; Sun, Xiao
    In: ECS Transactions, Jg. 37 (2011-06-24), S. 207-215
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    (Invited) CMOS MEMS Integration
    Fedder, Gary K.
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 331-340
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Prospective and Critical Issues of III-V/Ge CMOS on Si Platform
    Takenaka, Mitsuru ; Takagi, Shinichi
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 279-298
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Fabrication Methodology of Microlenses for Stereoscopic Imagers Using Standard CMOS Process
    Rocha, R. P. ; José Higino Correia ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 49 (2012-08-30), S. 323-330
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Improvement of Integrated Pressure Sensor Systems Fabricated by a Combined CMOS- and MEMS-Technology with Regard to Low Pressure Ranges
    Schreiber-Prillwitz, Wolfgang ; Job, Reinhart
    In: ECS Transactions, Jg. 49 (2012-08-30), S. 417-424
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Challenges and Solutions of Extremely Thin SOI (ETSOI) for CMOS Scaling to 22nm Node and Beyond
    Schmitz, Stefan ; Shahidi, Ghavam G. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 951-957
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Impact of Radiation on the Operation and Reliability of Deep Submicron CMOS Technologies
    Simoen, Eddy ; Claeys, Cor ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 39-46
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    CMOS Technology Toward Green
    Wu, Hanming ; Chi, Min-hwa
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 27-32
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    (Invited) Performance and Reliability of a 25Gb/s Ge Waveguide Photodetector Integrated in a CMOS Process
    Guckenberger, Drew ; Sahni, Subal ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 741-747
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    (Invited) Past, Present and Future: SiGe and CMOS Transistor Scaling
    Kuhn, Kelin J. ; Kotlyar, Roza ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 3-17
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    (Invited) Beyond CMOS Devices as Enablers of Future Energy Efficient Integrated Circuits and Systems
    Ionescu, Adrian M. ; Salvatore, Giovanni A. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 73-76
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    Low Voltage Driven CMOS Circuits Based on Silicon on Glass
    Mruthyunjaya, Ravi K. ; Seung Hyun Park ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 391-398
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    (Invited) Integration Challenges of III-V Materials in Advanced CMOS Logic
    Droopad, Ravindranath ; Oh, Jungwoo ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 45 (2012-04-27), S. 179-184
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy (IETS) Study of Ultra-Thin Gate Dielectrics for Advanced CMOS Technology
    Ma, Tso-Ping
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 545-561
    Online unknown
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