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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    AVD and MOCVD TaCN-based Films for Gate Metal Applications on High k Gate Dielectrics
    Adelmann, Christoph ; Sven Van Elshocht ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 557-567
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  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    A Multimode SiGe BiCMOS 5–6 GHz Front-End IC that Enables 802.11ac Wave 2 and 802.11ax Wireless LAN Front-End Designs
    McPartlin, Mike ; Chun-Wen Paul Huang ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 75 (2016-08-18), S. 151-159
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  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    Impact of N2O/NH3/N2 Gas Mixture on the Interface Quality of Germanium MOS Capacitors
    Dushaq, Ghada ; Rasras, Mahmoud ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 75 (2016-08-18), S. 661-666
    Online unknown
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  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    (Invited) SiGe BiCMOS for Optoelectronics
    Lischke, Stefan ; Awny, A. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 75 (2016-08-18), S. 121-139
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  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    On the Fabrication of Backside Illuminated Image Sensors: Bonding Oxide, Edge Trimming and CMP Rework Routes
    Sebaai, Farid ; Verbinnen, Greet ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2015-04-07), S. 123-129
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  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    Using the Wave Layout Style to Boost the Digital ICs Electrical Performance in the Radioactive Environment
    Salvador Pinillos Gimenez ; Rafael Navarenho de Souza ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 66 (2015-03-27), S. 71-78
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  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    FDSOI Suitability for Asynchronous Circuits at Sub-VT
    Billoint, Olivier ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 66 (2015-03-27), S. 315-322
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    Silicon-Germanium-Silica Monolithic Photonic Integration Platform for High-Performance Optical Data Communication Systems
    Yamada, Koji ; Tsuchizawa, Tai ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-12), S. 749-759
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    Integration of InGaAs Channel n-MOS Devices on 200mm Si Wafers Using the Aspect-Ratio-Trapping Technique
    Hellings, Geert ; Thean, Aaron ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 45 (2012-04-27), S. 115-128
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  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    Impact of Constant Voltage Stress on High-κ Gate Dielectric for RF IC Performance
    Paliwoda, P. C. ; Misra, Durgamadhab
    In: ECS Transactions, Jg. 41 (2011-10-04), S. 415-419
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    Development of a MEMS/IC Design Environment for RFIC Applications
    Xin, Sun ; Cheng, Yuhua ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 173-178
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    A High Performance 80V Smart LDMOS Power Device Based on Thin SOI Technology
    Yang, Shao-Ming ; Sheu, Gene ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 18 (2009-03-06), S. 123-128
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    Effect of Wafer Bonding and Layer Splitting on Nanomechanical Properties of Standard and Strained SOI Films
    Petzold, Matthias ; Baumgart, Helmut ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 337-345
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  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Silicon-Germanium Heterostructure-on-Insulator Formed by Ge+ Ion Implantation and Hydrogen Transfer
    Tyschenko, Ida E. ; Popov, Vladimir ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 303-307
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    (Invited) Variability and Performance on FDSOI Technology with Strained SSOI Substrate and SiGe Channel
    Mazurier, Jérôme
    In: ECS Transactions, Jg. 75 (2016-08-18), S. 15-20
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    (Plenary) High-Performance Photonic BiCMOS – Next Generation More-than-Moore Technology for the Large Bandwidth Era
    Zimmermann, Lars
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-12), S. 13-18
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    (Invited) Application-Specific SiGe HBT Optimization
    Vanhoucke, Tony ; Mertens, Hans ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-12), S. 275-283
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Stability of Pseudomorphic and Compressively Strained Ge1-XSnx Thin Films under Rapid Thermal Annealing
    Margetis, Joe ; Seyed Amir Ghetmiri ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 64 (2014-08-12), S. 881-893
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    (Invited) Microwave-Based Metrology Platform Development: Application of Broad-Band RF Metrology to Integrated Circuit Reliability Analyses
    Kopanski, Joseph J. ; Ahn, Jung-Joon ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 61 (2014-03-19), S. 113-121
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Innovative Layout Styles to Boost the Mosfet Electrical Performance
    Salvador Pinillos Gimenez
    In: ECS Transactions, Jg. 60 (2014-02-27), S. 121-126
    Online unknown
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