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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    Optical Power Efficiency Versus Breakdown Voltage of Avalanche-Mode Silicon LEDs in CMOS
    Wienk, Gerard J. M. ; Annema, Anne-Johan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 38 (2017-06-23), Heft 7, S. 898-901
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  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    A Study of Vertical Thin Poly-Si Channel Transfer Gate Structured CMOS Image Sensors
    Yoo, Kyung-Dong ; Cho, In-Wook ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 232-235
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  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    Single-Resonator Dual-Frequency BEOL-Embedded CMOS-MEMS Oscillator With Low-Power and Ultra-Compact TIA Core
    Torres, Francesc ; Uranga, Arantxa ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 273-276
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  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    THz Detection Using p+/n-Well Diodes Fabricated in 45-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Ahmad, Zeshan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 823-826
    Online unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
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    Cryogenic Characterization of 22nm FDSOI CMOS Technology for Quantum Computing ICs
    Jia, H. ; Dadash, M. S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2019
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  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    AC Device Variability in High- $\kappa$ Metal-Gate CMOS Technology.
    Jenkins, Keith A. ; Balakrishnan, Karthik ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019), Heft 1, S. 13-16
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    Correction to 'Broadband Terahertz Power Detectors Based on 90-nm Silicon CMOS Transistors With Flat Responsivity Up to 2.2 THz' [Sep 18 1413-1416]
    Lisauskas, Alvydas ; Roskos, Hartmut G. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2019
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  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology
    Woo Young Choi ; Lee, Myung-Jae
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 60-63
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    A 0.27e-rms Read Noise 220-μV/e-Conversion Gain Reset-Gate-Less CMOS Image Sensor With 0.11-μm CIS Process
    Seo, Min-Woong ; Kawahito, Shoji ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-12-01), S. 1344-1347
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    In-Die Through-BEOL Metal Wall for Noise Isolation in 180-nm FD-SOI CMOS
    Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
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  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Interconnect Design and Benchmarking for Charge-Based Beyond-CMOS Device Proposals
    Pan, Chenyun ; Naeemi, Azad
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-04-01), S. 508-511
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  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    ESD Robust Fully Salicided 5-V Integrated Power MOSFET in Submicron CMOS
    Prabhu, Manjunatha ; Lee, Jian-Hsing ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 623-625
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    Titanium Silicide/Titanium Nitride Full Metal Gates for Dual-Channel Gate-First CMOS
    Murray, Conal E. ; Dechene, Jessica ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-02-01), S. 150-153
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    A Self-Aligned Gate-Last Process Applied to All-III–V CMOS on Si
    Svensson, Johannes ; Jönsson, Adam ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, 2018
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  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Charge Trap Transistor (CTT): An Embedded Fully Logic-Compatible Multiple-Time Programmable Non-Volatile Memory Element for High- $k$ -Metal-Gate CMOS Technologies.
    Khan, Faraz ; Cartier, Eduard ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), Heft 1, S. 44-47
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    An Experimental Demonstration of GaN CMOS Technology
    Chen, Mary ; Li, Ray ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-03-01), S. 269-271
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  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Performance and Spatial Sensitivity Variations of Single-Photon Avalanche Diodes Manufactured in an Image Sensor CMOS Process
    Borg, Johan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-11-01), S. 1118-1120
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xs 0 - 576
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