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    1.25 V Supply 0.72 V Output Voltage Swing Two-Step Readout CMOS Active Pixel Architecture.
    Tsai, Tsung-Hsun ; Hornsey, Richard
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-11-01), Heft 11, S. 3277-3284
    Online academicJournal
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    Column-Parallel Digital Correlated Multiple Sampling for Low-Noise CMOS Image Sensors.
    Chen, Yue ; Xu, Yang ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-04-01), Heft 4, S. 793-799
    Online academicJournal
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    Volltext
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  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    Low Power, High Dynamic Range CMOS Image Sensor Employing Pixel-Level Oversampling \Sigma\Delta Analog-to-Digital Conversion.
    Ignjatovic, Z. ; Maricic, D. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-04-01), Heft 4, S. 737-746
    Online academicJournal
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    Volltext
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  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    Charge Domain Interlace Scan Implementation in a CMOS Image Sensor.
    Xu, Yang ; Mierop, Adri J. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 11 (2011-11-01), Heft 11, S. 2621-2627
    Online academicJournal
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    Optimal design of CMOS pseudoactive pixel sensor (PAPS) structure for low-dark-current and large-array-size imager applications.
    Shih, Yu-Chuan ; Wu, Chung-Yu
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 5 (2005-10-01), Heft 5, S. 956-963
    Online academicJournal
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  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    A CMOS smart pixel for active 3-D vision applications.
    Viarani, L. ; Stoppa, D. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 4 (2004-02-01), Heft 1, S. 145-152
    Online academicJournal
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    Design, optimization, and performance analysis of new photodiode structures for CMOS active-pixel-sensor (APS) imager applications.
    Wu, Chung-Yu ; Shih, Yu-Chuan ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 4 (2004-02-01), Heft 1, S. 135-144
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    A Colorimetric CMOS-Based Platform for Rapid Total Serum Cholesterol Quantification.
    Al-Rawhani, Mohammed A. ; Cheah, Boon Chong ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 17 (2017-01-15), Heft 2, S. 240-247
    Online academicJournal
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  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Analyzing the Radiation Degradation of 4-Transistor Deep Submicron Technology CMOS Image Sensors.
    Tan, Jiaming ; Buttgen, B. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-06-01), Heft 6, S. 2278-2286
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    A CMOS Active Pixel Sensor With Light Intensity Filtering Characteristics for Image Thresholding Application.
    Huang, Chia-Chin ; Huang, Jalin Ko-Tsung ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 12 (2012-05-01), Heft 5, S. 1289-1293
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Integration of a photodiode array and centroid processing on a single CMOS chip for a real-time shack-Hartmann wavefront sensor.
    Boon Hean Pui ; Hayes-Gill, B. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 4 (2004-12-01), Heft 6, S. 787-794
    Online academicJournal
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    A CMOS floating-gate matrix transform imager.
    Bandyopadhyay, A. ; Hasler, P. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 5 (2005-06-01), Heft 3, S. 455-462
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Dual-Band Ge-on-Si Photodetector Array With Custom, Integrated Readout Electronics.
    De Iacovo, Andrea ; Mitri, Federica ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022-02-15), Heft 4, S. 3172-3180
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    A Fast and Sensitive Schottky Photodiode With Surface Plasmon Enhanced Photocurrent and Extremely Low Dark Current for High-Frequency Applications in Near-Infrared.
    Dehdashti Jahromi, Hamed ; Lotfiani, Ahmad
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022-11-01), Heft 21, S. 20430-20437
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    CdSe0.4Te0.6 Quantum Well-Based Photodetector Toward Imaging Vision Sensors.
    Villa-Angulo, Carlos
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-11-15), Heft 22, S. 13357-13363
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  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    A Comparative Study of Stacked-Diode Configurations Operating in the Photovoltaic Region.
    Gomez-Merchan, Ruben ; Palomeque-Mangut, David ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-08-15), Heft 16, S. 9105-9113
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