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    Silicon-gate n-well CMOS process by full ion-implantation technology
    Ohzone, Takashi ; Hirao, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 27 (1980-09-01), S. 1789-1795
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    A CMOS-compatible high-voltage IC process
    Hadaway, R.A. ; Salama, C.A.T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 35 (1988-10-01), S. 1687-1694
    Online unknown
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    An all-implanted CCD/CMOS process
    Ong, D.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 28 (1981), S. 6-12
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  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    High-voltage CMOS SIMOX technology and its application to a BSH-LSI
    Maeda, Y. ; Akiya, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 33 (1986), S. 126-132
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  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    Modeling and characterization of CMOS-compatible high-voltage device structures
    Hadaway, R.A. ; Parpia, Z. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 34 (1987-11-01), S. 2335-2343
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  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Low-voltage single supply CMOS electrically erasable read-only memory
    Fellrath, J. ; Gerber, B.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 27 (1980-07-01), S. 1211-1216
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  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    n/sup +/-poly-to-n/sup +/-silicon capacitor structures for single-poly analog CMOS and BiCMOS processes
    Teng, C.-S. ; Liou, T.-I.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 36 (1989-09-01), S. 1620-1628
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  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Fabrication of fully self-aligned joint-gate CMOS structures
    Robinson, A.L. ; Maby, E. W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 32 (1985-06-01), S. 1140-1142
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  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    A novel CMOS structure with a reduced drain-substrate capacitance
    Nakamura, T. ; Sagara, Kazuhiko
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 36 (1989-03-01), S. 598-600
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  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    Reducing Dynamism in DRAM With Bistable MEMS Switch as Sleep Transistor
    Dhairya Singh Arya ; Garg, Manu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1045-1049
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  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    On-Chip Fully Integrated Field Emission Arrays for High-Voltage MEMS Applications
    Deka, Nishita ; Subramanian, Vivek
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-09-01), S. 3753-3760
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  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    Curing of Aged Gate Dielectric by the Self-Heating Effect in MOSFETs
    Moon, Dong-Il ; Choi, Yang-Kyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-03-01), S. 777-788
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  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    High speed and compact CMOS circuits with multi-pillar surrounding gate transistors
    Okabe, Naoko ; Nitayama, Akihiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 36 (1989-11-01), S. 2605-2606
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  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Guest Editorial Special Issue on 2-D Materials for Electronic, Optoelectronic, and Sensor Devices
    Esseni, David ; Das, Saptarshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4034-4039
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  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Electrostatic Doping in Semiconductor Devices
    Gupta, Gaurav ; Hueting, Raymond J. E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3044-3055
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  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    A High-Voltage Single-Emitter Reduced-Surface-Field Horizontal Current Bipolar Transistor for BiCMOS Integration
    Suligoj, Tomislav ; Zilak, Josip ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-07-01), S. 3019-3022
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  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    A Reconfigurable Low-Power BDD Logic Architecture Using Ferroelectric Single-Electron Transistors
    Li, Xueqing ; Narayanan, Vijaykrishnan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-03-01), S. 1052-1057
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  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    3-D Statistical Simulation Comparison of Oxide Reliability of Planar MOSFETs and FinFET
    Asenov, Asen ; Markov, Stanislav ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4008-4013
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  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    A Novel p-i-n Inductor for Tunable Wideband Matching Network Application
    Lin, Wei-Cheng ; Lee, Chie-In
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-08-01), S. 2611-2618
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  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    A New Technique for Measuring Gate-Oxide Leakage in Charging Protected MOSFETs
    Lin, Wallace W.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-04-01), S. 683-691
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xs 0 - 576
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