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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    LTPS AM-OLED Display Consisting of Two-TFTs/One-Capacitor Pixel Circuits for Producing High-Uniformity Images
    Kohno, T. ; Kuranaga, T. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 60 (2013), Heft 11, S. 3780-3786
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    One-Time-Programmable Memory in LTPS TFT Technology With Metal-Induced Lateral Crystallization
    Li, L. ; Chui, C. O. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 145-150
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    The Impact of Formula Not Shown Interface Layer on a Pd/n-LTPS Schottky Diode Hydrogen Detecting Performances
    Chiang, Y. T. ; Fang, Y. K. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 57 (2010), Heft 8, S. 2013-2018
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    An Empirical Defect-Related Photo Leakage Current Model for LTPS TFTs Based on the Unit Lux Current
    Tai, Y. H. ; Kuo, Y. F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 57 (2010), Heft 5, S. 1015-1022
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Characteristics of Formula Not Shown /Poly-Si Interfacial Layer on CMOS LTPS-TFTs With Formula Not Shown Gate Dielectric and Formula Not Shown Plasma Surface Treatment
    Ma, M. W. ; Chiang, T. Y. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 55 (2008), Heft 12, S. 3489-3493
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    Temperature Coefficient of Poly-Silicon TFT and Its Application on Voltage Reference Circuit With Temperature Compensation in LTPS Process
    Lu, T. C. ; Zan, H. W. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 55 (2008), Heft 10, S. 2583-2589
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    Reliability Mechanisms of LTPS-TFT With HfO~2 Gate Dielectric: PBTI, NBTI, and Hot-Carrier Stress
    Ma, M. W. ; Chen, C. Y. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 55 (2008), Heft 5, S. 1153-1160
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Suppressing <tex-math notation='LaTeX'>${V_{\mathrm{TH}}}$ </tex-math> Variations in LTPS Thin-Film Transistors With Current Scaling Ratio Modulation for AMOLED Display
    Lee, Po-Ting ; Hsu, Chih-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), S. 3577-3581
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Ultrashallow Junction Formation by Self-Limiting LTP and Its Application to Sub-65-nm Node MOSFETs
    Shima, A. ; Ashihara, H. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 52 (2005), Heft 6, S. 1165-1171
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Compact Analytical Physical-Based Model of LTPS TFT for Active Matrix Displays Addressing Circuits Simulation and Design
    Benzarti, W. ; Plais, F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 51 (2004), Heft 3, S. 345-350
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Electrical Properties of Metal-Induced Laterally Crystallized p-Type LTPS-TFT With High- $\kappa $ ZrTiO4 Gate Dielectric Featuring Low Equivalent-Oxide-Thickness.
    Park, Jae Hyo ; Han, Ji Su ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2391-2397
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Characteristics of Hf[O.sub.2]poly-Si interfacial layer on CMOS LTPS-TFTs with Hf[O.sub.2] gate dielectric and [O.sub.2] plasma surface treatment
    Ma, Ming-Wen ; Chiang, Tsung-Yu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 12, S. 3489-3493
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Asymmetric Driving Current Modification of CMOS LTPS-TFTs With Formula Not Shown Gate Dielectric
    Ma, W. C.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Jg. 61 (2014), Heft 3, S. 930-932
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    LTPS Thin-Film Transistors Fabricated Using New Selective Laser Annealing System
    Sugawa, Shigetoshi ; Saito, Kaori ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), S. 3250-3256
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    One-time-programmable memory in LTPS TFT technology with metal-induced lateral crystallization
    Li, Lin ; Chi On Chui ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 145-150
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    The impact of \hbox {TiO}_{2} interface layer on a Pd/n-LTPS schottky diode hydrogen detecting performances
    Chiang, Yen-Ting ; Fang, Yean-Kuen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 2013-2018
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    An empirical defect-related photo leakage current model for LTPS TFTs based on the unit lux current
    Tai, Ya-Hsiang ; Kuo, Yan-Fu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-05-01), Heft 5, S. 1015-1021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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md 768 - 992
lg 992 - 1200
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