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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    Parameterization of Neutron-Induced SER in Bulk SRAMs From Reverse Monte Carlo Simulations.
    Wrobel, Frédéric ; Iacconi, Philibert
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2313-2318
    Online academicJournal
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  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    Neutron and Proton-Induced Single Event Upsets in Advanced Commercial Fully Depleted SOI SRAMs.
    Baggio, J. ; Ferlet-Cavrois, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), Heft 6, S. 2319-2325
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    Monte-Carlo Simulations to Quantify Neutron-Induced Multiple Bit Upsets in Advanced SRAMs.
    Mérelle, Thomas ; Saigné, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-10-02), Heft 5, S. 1538-1544
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    Methodology to Compute Neutron-Induced Alphas Contribution on the SEU Cross Section in Sensitive RAMs.
    Wrobel, Frédéric ; Palau, J. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-02), Heft 6, S. 3291-3297
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    Total Dose Effects on Bipolar Integrated Circuits: Characterization of the Saturation Region.
    Boch, J. ; Saigné, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-02), Heft 6, S. 3225-3230
    Online academicJournal
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    Volltext
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  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    Effect of Thermal Annealing on Radiation-Induced Degradation of Bipolar Technologies When the Dose Rate Is Switched From High to Low.
    Ducret, S. ; Saigné, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-02), Heft 6, S. 3219-3224
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    Contribution, of SiO² in Neutron-Induced SEU in SRAMs.
    Wrobel, F. ; Palau, J. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 2055-2059
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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