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    Magnetism switching and band-gap narrowing in Ni-doped PbTiO<subscript>3</subscript> thin films.
    Zhou, Wenliang ; Deng, Hongmei ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 117 (2015-05-21), Heft 19, S. 1-5
    Online academicJournal
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    Effects of lithium doping on microstructure, electrical properties, and chemical bonds of sol-gel derived NKN thin films.
    Lin, Chun-Cheng ; Chen, Chan-Ching ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 117 (2015-02-28), Heft 8, S. 85307-1- (7S.)
    Online academicJournal
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    Cryogenic temperature relaxor-like dielectric responses and magnetodielectric coupling in Aurivillius Bi5Ti3FeO15 multiferroic thin films.
    Bai, Wei ; Yin, Wenhao ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 116 (2014-08-28), Heft 8, S. 84103-1- (6S.)
    Online academicJournal
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  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    Cryogenic temperature relaxor-like dielectric responses and magnetodielectric coupling in Aurivillius Bi<subscript>5</subscript>Ti<subscript>3</subscript>FeO<subscript>15</subscript> multiferroic thin films.
    Bai, Wei ; Yin, Wenhao ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 116 (2014-08-28), Heft 8, S. 84103-1- (6S.)
    Online academicJournal
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    Near-ultraviolet light-emitting diodes with transparent conducting layer of gold-doped multi-layer graphene.
    Cho, Chu-Young ; Choe, Minhyeok ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 113 (2013-03-21), Heft 11, S. 113102-113106
    Online academicJournal
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    Effect of processing kinetics on the structure of ferromagnetic-ferroelectric-ferromagnetic interfaces.
    Sankara Rama Krishnan, P. S. ; Ramasse, Q. M. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 112 (2012-11-15), Heft 10, S. 104102-104108
    Online academicJournal
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  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    Residual stress characterization of polycrystalline 3C-SiC films on Si(100) deposited from methylsilane.
    Liu, Fang ; Carraro, Carlo ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 106 (2009-07-01), Heft 1, S. 013505-13505
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    Polarization change in ferroelectric thin film capacitors under external stress.
    Zhu, H. ; Chu, D. P. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-03-15), Heft 6, S. 061609-61609
    Online academicJournal
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    Pressure effects on strained FeSe0.5Te0.5 thin films.
    Gooch, M. ; Lorenz, B. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 111 (2012-06-01), Heft 11, S. 112610-112613
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Resonance of electrostatically actuated thin-film amorphous silicon microelectromechanical systems microresonators in aqueous solutions: Effect of solution conductivity and viscosity.
    Adrega, T. ; Chu, V. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 101 (2007-05-01), Heft 9, S. 094308-94308
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Determination of stress-optical and thermal-optical coefficients of Nb2O5 thin film material.
    Chen, Tei-Chen ; Chu, Ching-Jiung ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 101 (2007-02-15), Heft 4, S. 043513-43513
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  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    Electrical, magnetic, and optical properties in multiferroic Bi5Ti3FeO15 thin films prepared by a chemical solution deposition route.
    Bai, W. ; Gao, Y. Q. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 109 (2011-03-15), Heft 6, S. 64901-64905
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  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    An abnormal dielectric relaxation phenomenon observed in PbZr0.38Ti0.62O3 multilayers.
    Hu, G. J. ; Zhang, T. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-05-01), Heft 9, S. 94107-1- (4S.)
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  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    An abnormal dielectric relaxation phenomenon observed in PbZr<subscript>0.38</subscript>Ti<subscript>0.62</subscript>O<subscript>3</subscript> multilayers.
    Hu, G. J. ; Zhang, T. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-05-01), Heft 9, S. 94107-1- (4S.)
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  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Switching kinetics in epitaxial BiFeO<subscript>3</subscript> thin films.
    Pantel, Daniel ; Chu, Ying-Hao ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-04-15), Heft 8, S. 84111-84114
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  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    Evolution of microstructure and related properties of PbZr<subscript>0.4</subscript>Ti<subscript>0.6</subscript>O<subscript>3</subscript> films on F-doped tin oxide with annealing temperature.
    Zhang, T. ; Hu, G. J. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-04-15), Heft 8, S. 84103-84106
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  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    Structural, electrical, and magnetic properties of Mn<subscript>2.52-x</subscript>Co<subscript>x</subscript>Ni<subscript>0.48</subscript>O<subscript>4</subscript> films.
    Wu, Jing ; Huang, Zhiming ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 107 (2010-03-01), Heft 5, S. 53716-53721
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  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Dielectric properties and microstructure of nano-MgO dispersed Ba0.3Sr0.7TiO3 thin films prepared by sputter deposition.
    Wang, Sea-Fue ; Chu, Jinn P. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 98 (2005-07-01), Heft 1, S. 014107-14107
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  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    Improvement of interfacial and dielectric properties of sputtered Ta2O5 thin films by substrate biasing and the underlying mechanism.
    Huang, A. P. ; Chu, Paul K.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 97 (2005-06-01), Heft 11, S. 114106-114106
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  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    Electrostatically actuated thin-film amorphous silicon microbridge resonators.
    Gaspar, J. ; Chu, V. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 97 (2005-05-01), Heft 9, S. 094501-94501
    Online academicJournal
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