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In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-09-01), Heft 9/10, S. 1998-2004academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 25-32academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 72 (2017-05-01), S. 24-29Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 61 (2016-06-01), S. 125-128Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 42 (2002), S. 3-13Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-05-01), S. 662-665Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003-02-01), S. 195-201Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 41 (2001-11-01), S. 1761-1770Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 41 (2001), S. 13-19Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 38 (1998-09-01), S. 1401-1405Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005-07-01), S. 1202-1207Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 15 (1976), S. 113-122Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 76 (2017-09-01), S. 145-148academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-09-01), Heft 9-11, S. 1252-1256academicJournalZugriff: