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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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    Erratum: Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al2O3/TiO2 resistive memories (2020 Nanotechnology 31 445205)
    Beilliard, Yann ; Drouin, Dominique ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 31 (2020-09-24), S. 499601-499601
    Online unknown
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  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    Arrays of suspended silicon nanowires defined by ion beam implantation: mechanical coupling and combination with CMOS technology
    Borrisé, Xavier ; Rius, Gemma ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 29 (2018-02-02), Heft 15
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    Erratum: Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al <subscript>2</subscript> O <subscript>3</subscript> /TiO <subscript>2</subscript> resistive memories (2020 Nanotechnology 31 445205).
    Beilliard, Y ; Paquette, F ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 31 (2020-09-24), Heft 49
    unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    CMOS considerations in nanoelectromechanical carbon nanotube-based switches
    Yousif, M.Y.A. ; Lundgren, P. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 19 (2008), Heft 28, S. 285204-285300
    Online serialPeriodical
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  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Architecture design of resistor/FET-logic demultiplexer for hybrid CMOS/nanodevice circuit interconnect
    Li, S. ; Zhang, T.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 19 (2008), Heft 18, S. 185202-185300
    Online serialPeriodical
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  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    On-chip deposition of carbon nanotubes using CMOS microhotplates
    Haque, M.S. ; Teo, K.B.K. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 19 (2008), Heft 2, S. 25607-25700
    Online serialPeriodical
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  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    The impact of silicon nano-wire technology on the design of single-work-function CMOS transistors and circuits
    Bindal, A. ; Hamedi-Hagh, S.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 17 (2006), Heft 17, S. 4340-4351
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Resonators with integrated CMOS circuitry for mass sensing applications, fabricated by electron beam lithography
    Ghatnekar-Nilsson, S. ; Forsen, E. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 16 (2005), Heft 1, S. 98-102
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Fabrication of cantilever based mass sensors integrated with CMOS using direct write laser lithography on resist
    Forsen, E. ; Nilsson, S. G. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 15 (2004), Heft 10, S. S628- (6S.)
    Online serialPeriodical
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  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    CMOS-like logic in defective, nanoscale crossbars
    Snider, G. ; Kuekes, P. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 15 (2004), Heft 8, S. 881-891
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Titanium dioxide nanowire sensor array integration on CMOS platform using deterministic assembly
    Schulman, Daniel S. ; Zhong, Xiahua ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 28 (2017-05-20), Heft 26
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Relative performance of three nanoscale devices-CMOS, RTDs and QCAs-against a standard computing task
    Nikolic, K. ; Berzon, D. ; et al.
    In: NANOTECHNOLOGY, Jg. 12 (2001), Heft 1, S. 38-43
    Online serialPeriodical
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript>/TiO<subscript>2</subscript> resistive memories.
    Beilliard, Yann ; Paquette, François ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 31 (2020-10-30), Heft 44, S. 1-8
    academicJournal
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    academicJournal
  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al
    Yann, Beilliard ; François, Paquette ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 31 (2020-07-17), Heft 44
    Online unknown
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
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  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    AC signal characterization for optimization of a CMOS single-electron pump
    Murray, Roy ; Perron, Justin K. ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 29 (2018-01-08), S. 065202-65202
    Online unknown
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