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  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )
    박재관 ; 김경태 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1989 (1989-01-31), Heft 1, S. 79-81
    Konferenz
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  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    Carrier 의 속도포화에 따른 LDD NMOSFET의 Saturated Transconductance 감소 기구 ( Degradation Mechanism of Saturated Transconductance in LDD NMOSFET due to the Velocity Saturation of the Carrier )
    이명복 ; 이정일 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1989 (1989-01-31), Heft 1, S. 87-89
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    VLSI CMOS 소자를 위한 LDD N-Mosfet ( LDD N-MOSFET for VLSI CMOS Devices )
    김광수 ; 김보우 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1986 (1986-01-31), Heft 1, S. 57-59
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )
    김달수 ; 박영준
    In: 전자공학회논문지, Jg. 24 (1987-05-31), Heft 3, S. 478-484
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화 ( The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases )
    이명복 ; 이정일 ; et al.
    In: 전자공학회논문지, Jg. 26 (1989-05-31), Heft 5, S. 682-686
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    Novel Process Technologies of a Deep-submicron MOSFET for the High Packing Density of Circuits
    Cho, Eou-Sik ; Sang Jik Kwon
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 21 (2021-12-31), Heft 6, S. 459-464
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    REDUCTION OF SATURATED TRANSCONDUCTANCE IN LDD ( LIGHTLY DOPED DRAIN ) MOSFETS
    Myoung Bok Lee ; Yoo Jong Lee ; et al.
    In: ICVC : International Conference on VLSI and CAD, Jg. 1 (1989-01-31), Heft 1, S. 434-436
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    AN EXPERIMENTAL INVESTIGATION OF ENHANCED LDD DEVICES
    Daeg Wan Kang ; Gyu Hwan Yun ; et al.
    In: ICVC : International Conference on VLSI and CAD, Jg. 1 (1989-01-31), Heft 1, S. 430-432
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석
    韓民九 (Min-Koo Han) ; 朴珉亨 (Min-Hyung Park)
    In: 전기학회논문지, Jg. 38 (1989-06-30), Heft 6, S. 401-414
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    High voltage NMOS의 on-state breakdown voltage와 기판누설전류 double hump 개선
    Improving on-state breakdown voltage and double hump substrate current of HV NMOS
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    정확도가 개선된 MINIMOS를 이용한 LDD MOSFET의 2차원적인 Numerical Simulation ( More Accurate 2 Dimensional Numerical Simulation of LDD MOSFET Using Minimos )
    정태성 ; 정봉영
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1985 (1985-01-31), Heft 1, S. 421-422
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    짧은 채널 LDD MOSFETS에서 게이트 전압에 의존하는 기생 저항 ( GATE-VOLTAGE DEPENDENT PARASITIC RESISTANCE IN SHORT CHANNEL LIGHTLY DOPED DRAIN ( LDD ) MOSFETS )
    강광남 ; 김동명 ; et al.
    In: 대한전자공학회 학술대회, Jg. 1989 (1989-11-30), Heft 11, S. 645-646
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    0.13㎛ 기술의 shrink에 따른 DC Parameter 매칭에 관한 연구
    Mun), 문성열(Seong-Yeol ; Kang), 강성준(Seong-Jun ; et al.
    In: 한국전자통신학회 논문지, Jg. 9 (2014-11-30), Heft 11, S. 1227-1232
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    I/O 트랜지스터의 핫 캐리어 주입 개선에 관한 연구
    Mun), 문성열(Seong-Yeol ; Kang), 강성준(Seong-Jun ; et al.
    In: 한국전자통신학회 논문지, Jg. 9 (2014-08-30), Heft 8, S. 847-852
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    만성 요통 환자의 골반 교정 운동이 척추부 변위 변화와 요통 장애 지수에 미치는 영향
    김찬회 (Kim, Chan-Hoi) ; 김원문 (Kim, Won-Moon)
    In: 한국웰니스학회지, Jg. 15 (2020-08-31), Heft 3, S. 461-468
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    Deep Submicron SOI n-채널 MOSFET에서 열전자 효과들의 온도 의존성
    박근형 (Keun-Hyung Park) ; 차호일 (Ho-Il Cha)
    In: 한국정보전자통신기술학회 논문지, Jg. 11 (2018-04-30), Heft 2, S. 189-193
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    Family and Reentry
    Lee, Chang-Bae
    In: 한국범죄심리연구, Jg. 8 (2012-04-30), Heft 1, S. 139-160
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Channel and Gate Workfunction-Engineered CNTFETs for Low-Power and High-Speed Logic and Memory Applications
    Wang, Wei ; Xu, Hongsong ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 16 (2016-02-29), Heft 1, S. 91-104
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    SiNx/SiO2 Double Stack Layer를 이용한 LTPS TFT 특성 향상에 관한 연구
    Study of LTPS TFT characteristic enhancement using SiNx/SiO2 double stack layer by gate dielectric
    2010
    Hochschulschrift
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  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    승용디젤엔진에서 Sulfur가 미치는 영향에 관한 실험적 연구
    김성대 (Sungdae Kim) ; 정민원 (Minwon Jung) ; et al.
    In: 한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회, Jg. 2016 (2016-11-30), Heft 11, S. 139-139
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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