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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    Micro-scale characterization of a CMOS-based neutron detector for in-phantom measurements in radiation therapy
    Arbor, Nicolas ; Higueret, Stephane ; et al.
    In: Nuclear instruments and methods in physics research section A, Jg. 888 (2018), S. 103-109
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    Design and characterization of a monolithic CMOS-MEMS mutually injection-locked oscillator for differential resonant sensing
    Prache, Pierre ; Juillard, Jérôme ; et al.
    In: Sensors and actuators A, Jg. 269 (2018), S. 160-170
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    A novel fabrication method for co-integrating ISFET with damage-free sensing oxide and threshold voltage-tunable CMOS read-out circuits
    Kwon, Dae Woong ; Lee, Ryoongbin ; et al.
    In: Sensors and actuators B, Jg. 260 (2018), S. 627-634
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    Micro-scale characterization of a CMOS-based neutron detector for in-phantom measurements in radiation therapy
    Arbor, Nicolas ; Higueret, Stephane ; et al.
    In: Nuclear instruments and methods in physics research section A, Jg. 888 (2018), S. 103-109
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    Highly reliable pipeline analog-to-digital converter in 0.13 μm standard CMOS process
    Zhou, Zongkun ; Huang, Shuigen ; et al.
    In: Guo fang ke ji da xue xue bao, Jg. 40 (2018), Heft 6, S. 165-170
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    A novel fabrication method for co-integrating ISFET with damage-free sensing oxide and threshold voltage-tunable CMOS read-out circuits
    Kwon, Dae Woong ; Lee, Ryoongbin ; et al.
    In: Sensors and actuators B, Jg. 260 (2018), S. 627-634
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    Generation and Annealing of Hot Pixels of CMOS Image Sensor Induced by Proton
    Wang, Tian-hui ; Li, Yu-dong ; et al.
    In: Fa guang xue bao, Jg. 39 (2018), Heft 12, S. 1697-1704
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    Charge-collection properties of irradiated depleted CMOS pixel test structures
    Mandić, I. ; Cindro, V. ; et al.
    In: Nuclear instruments and methods in physics research section A, Jg. 903 (2018), S. 126-133
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    Single Event Effect and its Hardening Technique in Nano-scale CMOS Integrated Circuits
    Zhao, Yuan-fu ; Wang, Liang ; et al.
    In: Dianzi xuebao, Jg. 46 (2018), Heft 10, S. 2511-2518
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    A CMOS Temperature Sensor with High-Precision Using a Charge-Balance Analog-to-Digital Converter
    Chen, Yang ; Zhang, Ruizhi ; et al.
    In: Xian Jiaotong Daxue xuebao, Jg. 52 (2018), Heft 10, S. 124-131
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    Design of RF front—end CMOS active mixer
    Li, Guiqin
    In: Dian zi yuan jian yu cai liao, Jg. 37 (2018), Heft 9, S. 57-62
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    Fully-Integrated Reconfigurable CMOS Global Navigation Satellite System Receivers with High-Linearity
    Jin, Jing ; Yang, Zhaolin ; et al.
    In: Shanghai jiao tong da xue xue bao, Jg. 52 (2018), Heft 10, S. 1226-1233
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    Thermal neutron detector based on COTS CMOS imagers and a conversion layer containing Gadolinium
    Pérez, Martín ; Blostein, Juan Jerónimo ; et al.
    In: Nuclear instruments and methods in physics research section A, Jg. 893 (2018), S. 157-163
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Plasma etching process for advanced CMOS and memory device fabrication
    Eriguchi, Koji ; Urabe, Keiichiro
    In: Ōyō butsuri, Jg. 87 (2018), Heft 12, S. 895-901
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    Monolithically Integrated CMOS-Compatible III–V on Silicon Lasers
    Seifried, Marc ; Villares, Gustavo ; et al.
    In: IEEE journal of selected topics in quantum electronics, Jg. 24 (2018), Heft 6, S. 1-9
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    Atomic layer deposited HfO2 ultra-thin films on different crystallographic orientation Ge for CMOS applications
    Agrawal, Khushabu S. ; Patil, Vilas S. ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 654 (2018), S. 30-37
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    Charge-collection properties of irradiated depleted CMOS pixel test structures
    Mandić, I. ; Cindro, V. ; et al.
    In: Nuclear instruments and methods in physics research section A, Jg. 903 (2018), S. 126-133
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Radiation Shielding for CMOS APS Digital Module
    Shoulong, Xu ; Shuliang, Zou ; et al.
    In: He dong li gong cheng, Jg. 39 (2018), Heft 4, S. 165-170
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    CMOS-compatible polarizer with tilted polarization angle
    Wu, Wenhao ; Yu, Yu ; et al.
    In: Optics communications, Jg. 426 (2018), S. 35-40
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Evaluation of thin film p-type single crystal silicon for use as a CMOS Resistance Temperature Detector (RTD)
    Mehmood, Zahid ; Mansoor, Mohtashim ; et al.
    In: Sensors and actuators A, Jg. 283 (2018), S. 159-168
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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