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    Analysis of an Anomalous Transistor Exhibiting Dual-Vt Characteristics and Its Cause in a 90nm Node CMOS Technology
    Ricklefs, Reyhan ; Tsang, Yuk ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2012-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 102 öffnen
    Detecting Internal 'ESD-Like' Damage on CMOS Gates
    Gores, M. ; Dicken, H.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2010-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 103 öffnen
    A Case Study: Observation of Counter Doping of Gate Poly and Its Validation in High Density 90nm CMOS SRAM Bitcell
    Blankenship, Andrew ; Tsang, Yuk ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2010-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 104 öffnen
    Identification of Extension Implant Defect in Sub-Micron CMOS ICs – Analysis Technique, Model, and Solution
    Skarupa, Ron ; Nallapati, Giri ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2011-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 105 öffnen
    Reliability for Pure CMOS One-Time Programmable Memory Using Gate-Oxide Anti-Fuse (eFuse)
    Wakai, Nobuyuki
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 106 öffnen
    Scanning Capacitance Microscopy Application for Bipolar and CMOS Doping Issues in Semiconductor Failure Analysis
    Chao, Chia-Hsing ; Lin, Coswin ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 107 öffnen
    CMOS X-ray system.
    In: Advanced Materials & Processes, Jg. 162 (2004), Heft 1, S. 1
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 108 öffnen
    An Effective Failure Analysis Strategy for the Successful Introduction of New Products Designed in 90 and 65 nm CMOS Technologies
    Ly, K. ; Lamy, M. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2004-10-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 109 öffnen
    Packaging Material has Contributed to High Idd_Pd Failures in CMOS ICs
    Chew Gim Eng ; Pun Meng Chi ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2006-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 110 öffnen
    78. Ultra-Low Voltage Time-Resolved Emission Measurements from 32 nm SOI CMOS Integrated Circuits
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 111 öffnen
    37. Analysis of an Anomalous CMOS Transistor Exhibiting Drain to Source Leakage - Its Model and Cause
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
    Online E-Book
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 112 öffnen
    Backside Deprocessing of CMOS SOI Devices for Physical Defect and Failure Analysis
    Prejean, Seth ; Shannon, Joseph P.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2003-10-01
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 113 öffnen
    3D STEM Tomography Based Failure Analysis of 45 nm CMOS Devices
    Delille, Dominique ; Lorut, F.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 114 öffnen
    Dopant Analysis on Advanced CMOS Technologies
    Danzfuss, Bodo ; Siegelin, Frank ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 115 öffnen
    Advanced Optical Testing of an Array in 65 nm CMOS Technology
    Song, Peilin ; Christensen, Todd A. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 116 öffnen
    The Effectiveness of OBIRCH Based Fault Isolation for Sub-90nm CMOS Technologies
    Lorut, F. ; Wyon, C. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 117 öffnen
    Dislocation Related Leakage in Advanced CMOS Devices
    Stuffer, Anton ; Siegelin, Frank
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 118 öffnen
    CMOS Backside Deprocessing With TMAH / IPA as a Sample Preparation Procedure for Failure Analysis
    Bruce, Victoria J. ; Burke, Joyce ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2002-10-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 119 öffnen
    Ultra Low Voltage Probing on 45 nm CMOS by Time Resolved Emission (TRE) Technology
    Vickers, Jim ; Ispasoiu, Radu ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2007-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 120 öffnen
    Photon Emission Microscopy in 90 nm CMOS Technologies
    Goossens, Martijn ; Kruseman, B. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2004-10-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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