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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    Evolution of a CMOS based lateral high voltage technology concept
    KNAIPP, M ; PARK, J. M ; et al.
    In: 7th international seminar on power semiconductors, Jg. 37 (2006), Heft 3, S. 243-248
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    Doubling speed using strained Si/SiGe CMOS technology
    OLSEN, Sarah H ; TEMPLE, Matthew ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 338-341
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    CMOS reliability issues for emerging cryogenic Lunar electronics applications
    TIANBING, CHEN ; CHENDONG, ZHU ; et al.
    In: ISDRS 2005, Jg. 50 (2006), Heft 6, S. 959-963
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    CMOS integration of epitaxial Gd2O3 high-k gate dielectrics
    GOTTLOB, H. D. B ; ECHTERMEYER, T ; et al.
    In: ISDRS 2005, Jg. 50 (2006), Heft 6, S. 979-985
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    Monolithic integration of a silicon micromotor in combination with the CMOS drive circuit on one chip
    HORSTMANN, J. T ; GOSER, K. F
    In: Proceedings of the 28th International Conference on Micro- and Nano-Engineering, September 16-19, 2002, Lugano, Switzerland, Jg. 67-68 (2003), S. 390-396
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    A foveated-structure CMOS retina chip for edge detection with local light adaptation
    PARK, Dae-Sik ; KIM, Jung-Hwan ; et al.
    In: Selected papers from the Pacific Rim Workshop on Transducers and Micro/Nano Technologies, Jg. 108 (2003), Heft 1-3, S. 75-80
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices
    MAHAPATRA, S ; ALAM, M. A ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 114-121
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    Vertical comb-finger capacitive actuation and sensing for CMOS-MEMS
    HUIKAI, XIE ; FEDDER, Gary K
    In: Micromechanics section of sensors and actuators, Jg. 95 (2002), Heft 2-3, S. 212-221
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    CMOS-MEMS membrane for audio-frequency acoustic actuation
    NEUMANN, John J ; GABRIEL, Kaigham J
    In: Micromechanics section of sensors and actuators, Jg. 95 (2002), Heft 2-3, S. 175-182
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Study of plasma charging-induced white pixel defect increase in CMOS active pixel sensor
    TOKASHIKI, Ken ; BAI, Keunhee ; et al.
    In: Proceedings of the International Symposium on Dry Process (DPS 2005), Jeju, Korea, November 28-30, Jg. 515 (2007), Heft 12, S. 4864-4868
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Simulation of implant free III-V MOSFETs for high performance low power Nano-CMOS applications
    ASENOV, A ; KALNA, K ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2398-2403
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Transmission lines fabricated with CMOS interconnect technology
    GUO, LIHUI ; ZHANG, YIBIN ; et al.
    In: INFOS 2003 Proceedings of the 13th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors: June 18-20, Jg. 72 (2004), Heft 1-4, S. 223-229
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Fabrication and device characteristics of strained-Si-on-insulator (strained-SOI) CMOS
    TAKAGI, Shin-Ichi ; MIZUNO, Tomohisa ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 241-247
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    A low-voltage wide-input CMOS comparator for sensor application using back-gate technique
    HUNG, Yu-Cherng ; LIU, Bin-Da
    In: Selected papers from the 1st International Meeting on Microsensors and Microsystems, Tainan, Taiwan, 13-14 January 2003, Jg. 20 (2004), Heft 1, S. 53-59
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    An approach based on neural computation to simulate the nanoscale CMOS circuits: Application to the simulation of CMOS inverter
    DJEFFAL, F ; CHAHDI, M ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 1, S. 48-56
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    Integration of sputtered silicon microstructures with pre-fabricated CMOS circuitry
    HONER, Kenneth A ; KOVACS, Gregory T. A
    In: Selected papers from the Technical Digest of the 2000 Solid-State Sensors and Actuators Workshop, Hilton Head Island, SC, USA, 4-8 June, Jg. 91 (2001), Heft 3, S. 386-397
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    CMOS-based microsensors and packaging
    BALTES, Henry ; BRAND, Oliver
    In: Selected papers from Eurosensors XIV, Copenhagen, Denmark, 27-30 August 2000, Jg. 92 (2001), Heft 1-3, S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    A CMOS humidity sensor with on-chip calibration
    QIU, Y. Y ; AZEREDO-LEME, C ; et al.
    In: Selected papers from Eurosensors XIV, Copenhagen, Denmark, 27-30 August 2000, Jg. 92 (2001), Heft 1-3, S. 80-87
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    Electrical properties and thermal stability of MOCVD grown Ru gate electrodes for advanced CMOS technology
    TAPAJNA, M ; HUSEKOVA, K ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2412-2416
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    Reducing average and peak temperatures of VLSI CMOS circuits by means of evolutionary algorithm applied to high level synthesis
    KOZIEL, Slawomir ; SZCZESNIAK, Wladyslaw
    In: Therminic '02, Jg. 34 (2003), Heft 12, S. 1167-1174
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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