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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Design and Analysis of Two-stage CMOS LCD Buffer Operational Amplifier with Additional Load Capacitance
    Sultana, Neha ; Yashwant, Kadam ; et al.
    In: 2022 3rd International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC), 2022-08-17, S. 221-224
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    Post-CMOS Devices: Landau’s Anisotropy Sensitivity Analyses for Organic Ferroelectric Gate Stack and Its Application to NCTFET
    Singh, Khoirom Johnson ; Acharya, Lomash Chandra ; et al.
    In: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022-07-04, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    A 267 GHz Wide Tuning Range VCO With −3.5 dBm Peak Output Power in 40-nm CMOS
    Nath, S.K. ; Yoon, D.
    In: IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, Jg. 13 (2023-03-01), Heft 2, S. 122-131
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    A Fully-Digital Variation-Tolerant Runtime Detector for PCB-Level Probing Attack in a 28-nm CMOS
    Li, M. ; Yang, Y. ; et al.
    In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 6 (2023), S. 245-248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    CMOS Ring-Oscillator-Based Electrochemical Capacitance Imager with Frequency-Division-Multiplexed Readout
    Krishnan, Ashwin ; Levine, Peter M.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2022-05-28, S. 1082-1086
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Bio/CMOS Interfaces for Capacitance Sensing
    Carrara, Sandro
    In: Bio/CMOS Interfaces and Co-Design; (2024) S. 405-429
    Online E-Book
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Characterization of MOS Varactors in 40 nm CMOS Technology at 77 K and 4 K
    Liou, Fang-Chuan ; Huang, Tzuen-Hsi
    In: 2023 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), 2023-12-05, S. 25-27
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    A 0.75V 0.016mm2 12ENOB 7nm CMOS cyclic ADC with 1.5bit passive amplification stage and dynamic capacitance scaling
    Oshima, Takashi ; Yamamoto, Keisuke ; et al.
    In: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023-06-11, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Capacitance RF Characterization and Modeling of 28 FD-SOI CMOS Transistors down to Cryogenic Temperature
    Berlingard, Q. ; Lugo-Alvarez, J. ; et al.
    In: 2023 18th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2023-09-18, S. 37-40
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    EMBER: A 100 MHz, 0.86 mm2, Multiple-Bits-per-Cell RRAM Macro in 40 nm CMOS with Compact Peripherals and 1.0 pJ/bit Read Circuitry
    Upton, Luke R. ; Levy, Akash ; et al.
    In: ESSCIRC 2023- IEEE 49th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 2023-09-11, S. 469-472
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    High-Speed Light Detection Sensor for Hardware Security in Standard CMOS Technology
    Kim, D. ; Hong, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3917-3921
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    CMOS Negative Impedance Converter Circuit with the Elimination of Parasitic Gate-Source Capacitance
    Durukan, Sami ; Palamutcuogullari, Osman ; et al.
    In: 2022 Microwave Mediterranean Symposium (MMS), 2022-05-09, S. 1-5
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    Device Parameters Based Analytical Modeling of Ground-Bounce Induced Jitter in CMOS Inverters
    Verma, V.K. ; Tripathi, J.N.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-10-01), Heft 10, S. 5462-5469
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    A 1.5GHz Low-jitter LVDS Transmitter in 0.18μm CMOS Technology
    Hu, Biao ; Wu, Tianxiang ; et al.
    In: 2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2022-10-25, S. 1-3
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Analysis of HfO2 and ZrO2 as High-K Dielectric for CMOS Nano Devices
    Hasan, Talal ; Zafar, Salahuddin ; et al.
    In: 2022 9th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ICEEE), 2022-03-29, S. 99-103
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    A 0.73-to-1.71 V Capacitor-less Low-Noise Low-Dropout Regulator in 28-nm CMOS
    Wang, Lantao ; Guo, Running ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2022-05-28, S. 1910-1913
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Super-Resolution Electrochemical Impedance Imaging With a 512 × 256 CMOS Sensor Array
    Hu, K. ; Ho, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems, Jg. 16 (2022-08-01), Heft 4, S. 502-510
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    A Stacked Transistors CMOS SOI Power Amplifier For 5G Applications
    Ma, Zhize ; Conrad, Nathan J. ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF), 2022-01-16, S. 1-4
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    A 128 Gb/s, 11.2 mW Single-Ended PAM4 Linear TIA With 2.7 μArms Input Noise in 22 nm FinFET CMOS
    Daneshgar, S. ; Li, H. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-05-01), Heft 5, S. 1397-1408
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    A Low-Noise CMOS Front-End with 534 MΩ Transimpedance Gain for Single-Molecule Signal Acquisition
    Ma, Chenyu ; Hu, Shanci ; et al.
    In: 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2023-06-26, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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