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  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    A Nanowatt Temperature-Independent Tunable Active Capacitance Multiplier with DC Compensation in $0.13-\mu\mathrm{m}$ CMOS
    Zhang, Zhongyi ; Zhang, Tantan ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023-05-21, S. 1-5
    Konferenz
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  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    A 0.0072-mm2 10-bit 100-MS/s Calibration-free SAR ADC Using Digital Place-and-Route Tools in 40-nm CMOS
    Tsai, Yao-Hung ; Liu, Shen-Iuan
    In: 2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT), 2023-04-17, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    A 3.68 aFrms Resolution Continuous-Time Bandpass Δ Σ Capacitance-to-Digital Converter for Full-CMOS Sensors in 0.18 μm CMOS
    Park, S. ; Chae, H. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-06-01), Heft 6, S. 1657-1666
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    A Novel Calibration-Free Fully Integrated CMOS Capacitive Sensor for Life Science Applications
    Tabrizi, Hamed Osouli ; Forouhi, Saghi ; et al.
    In: 2021 IEEE Sensors, 2021-10-31, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    Detection of DNA Hybridization Beyond the Debye Screening Length by CMOS Capacitive Sensors
    Lin, C. ; Lee, Y. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-08-01), Heft 8, S. 1319-1322
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    A Fringe Field Shaping CMOS Capacitive Imaging Array
    Hu, Kangping ; Arcadia, Christopher E. ; et al.
    In: 2021 IEEE Sensors, 2021-10-31, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    Performance Analysis on Complementary FET (CFET) Relative to Standard CMOS With Nanosheet FET
    Jung, S. ; Jang, D. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 78-82
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    CMOS Folded-Cascode versus Inverter-based CSA towards Noise Performance and Speed
    Gogolou, Vasiliki ; Noulis, Thomas ; et al.
    In: 2023 12th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), 2023-06-28, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    A 130 nm CMOS Receiver for Visible Light Communication
    Ksack, R. ; Yagan, M.Y. ; et al.
    In: Journal of Lightwave Technology, Jg. 40 (2022-06-15), Heft 12, S. 3681-3687
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    A 0.6-dB Low Loss and 3–165 GHz Wideband Phase Difference Sub-THz Coupler in 0.18-μm CMOS
    Chang, Y. ; Hsieh, C. ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 32 (2022-06-01), Heft 6, S. 531-534
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    A Compact Front-End Circuit for a Monolithic Sensor in a 65-nm CMOS Imaging Technology
    Piro, F. ; Rinella, G.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 2191-2200
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    CMOS Capacitive Dry DNA Storage Monitoring: Design, Implementation and Experimental Results
    Tabrizi, H.O. ; Forouhi, S. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022-03-15), Heft 6, S. 5521-5530
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    A 650 kV/μs Common-Mode Resilient CMOS Galvanically Isolated Communication System
    Javid, M. ; Ptacek, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 69 (2022-02-01), Heft 2, S. 587-598
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    The Merged Voltage Follower: A Class-AB CMOS Follower With Enhanced Bandwidth to Drive Loads With Low Resistance and Large Capacitance Le suiveur de tension fusionné: un suiveur CMOS de classe AB avec une bande passante améliorée pour piloter des charges avec une faible résistance et une grande capacité
    Ocampo-Hidalgo, J.J. ; Molinar-Solis, J.E. ; et al.
    In: IEEE Canadian Journal of Electrical and Computer Engineering, Jg. 44 (2021-12-15), Heft 1, S. 30-40
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Design and Optimization of 4-bit Absolute-value Comparator Using CMOS & PTL Technique
    Yu, Angquan ; Zhong, Yangchengzhen ; et al.
    In: 2021 International Conference on Electronic Information Engineering and Computer Science (EIECS), 2021-09-23, S. 912-916
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    A Reconfigurable Switched-Capacitor DC-DC Step-up Converter Integrated in 130 nm CMOS
    Gerhardt, Joao ; Oliveira, Luis ; et al.
    In: 2021 International Young Engineers Forum (YEF-ECE), 2021-07-09, S. 58-62
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    Design and Characterization of a CMOS Capacitive Sensor Array for Fast Normal Stress Analysis
    Huang, T. ; Tseng, S. ; et al.
    In: IEEE Sensors Letters, Jg. 6 (2022-06-01), Heft 6, S. 1-4
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Design and Analysis of an On-Chip Current-Driven CMOS Parametric Frequency Divider
    Yan, M. ; Hussein, H.M.E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 70 (2023-05-01), Heft 5, S. 1893-1906
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    Effective Channel Mobility Extraction and Modeling of 10-nm Bulk CMOS FinFETs in Cryogenic Temperature Operation for Quantum Computing Applications
    Gupta, S. ; Singh, S.K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 1815-1822
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    Mathematical Modeling of Non-Linearity due to Charge Injection Effect in CMOS Imagers
    Tiwari, Ashish ; Talwekar, R.H.
    In: 2021 International Conference on Advances in Electrical, Computing, Communication and Sustainable Technologies (ICAECT), 2021-02-19, S. 1-6
    Konferenz
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