Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
10.664 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

10.664 Treffer

Sortierung: 
  1. Oh, J. H. ; Padthe, A. K. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8132-8137
    Konferenz
  2. Hu, T. ; Teel, A. R. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8106-8111
    Konferenz
  3. Kendoul, F. ; Fantoni, I. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8144-8149
    Konferenz
  4. Schweickhardt, T. ; Allgower, F.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8150-8155
    Konferenz
  5. Corradini, M. L. ; Orlando, G. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8112-8117
    Konferenz
  6. Vinsonneau, B. ; Goodall, D. P. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8138-8143
    Konferenz
  7. Kiyama, T. ; Sawada, K.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8124-8131
    Konferenz
  8. Sugie, T. ; Ueda, K.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8118-8123
    Konferenz
  9. He, Y. ; Chen, B. M. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8094-8099
    Konferenz
  10. Bujorianu, M.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8088-8093
    Konferenz
  11. Hu, T. ; Teel, A. R. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8100-8105
    Konferenz
  12. Kovaleva, A. S.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8076-8081
    Konferenz
  13. Chang, H. S. ; Chong, E. K. P.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8058-8063
    Konferenz
  14. Kristalny, M. ; Mirkin, L.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 7937-7942
    Konferenz
  15. Mehta, P. G. ; Vaidya, U.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8082-8087
    Konferenz
  16. Olivi, M. ; Hanzon, B. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8064-8069
    Konferenz
  17. Shao, C. ; Zhang, Y.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8048-8053
    Konferenz
  18. Ahn, H. S. ; Moore, K. L. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8070-8075
    Konferenz
  19. Pankov, A. R. ; Popov, A. ; et al.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8054-8057
    Konferenz
  20. Calafiore, G. ; Campi, M. C.
    In: IEEE CONFERENCE ON DECISION AND CONTROL, Jg. CONF 44 (2005), S. 8042-8047
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -