Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
2.910 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

2.910 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    A novel fabrication method for co-integrating ISFET with damage-free sensing oxide and threshold voltage-tunable CMOS read-out circuits
    Mo, Hyun-Sun ; Kim, Sihyun ; et al.
    In: Sensors and Actuators B: Chemical, Jg. 260 (2018-05-01), S. 627-634
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    A System for Logical Design of Custom CMOS VLSI Functional Blocks with Reduced Power Consumption
    Kardash, S. N. ; Yu. Yu. Lankevich ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018), S. 65-81
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    Investigation of the features of integrating nonvolatile FRAM elements with CMOS technology
    Voronov, D. D. ; G. Ya. Krasnikov ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 46 (2017-09-01), S. 353-358
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    Hybrid Spintronics/CMOS Logic Circuits Using All-Optical-Enabled Magnetic Tunnel Junction
    Dikshit, Surya Narain ; Nisar, Arshid ; et al.
    In: IEEE Open Journal of Nanotechnology ; volume 3, page 85-93 ; ISSN 2644-1292, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    Indefinite Admittance Matrix Based Modelling of PSIJ in Nano-Scale CMOS I/O Drivers
    Sharma, Vijender Kumar ; Tripathi, Jai Narayan ; et al.
    In: IEEE Open Journal of Nanotechnology ; volume 3, page 199-209 ; ISSN 2644-1292, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    Detailed electrical characterization of 200 mm CMOS compatible GaN/Si HEMTs down to deep cryogenic temperatures
    Kim, Donghyun ; Theodorou, C. ; et al.
    In: Solid-State Electronics ; volume 197, page 108448 ; ISSN 0038-1101, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    Architecture optimization of SPAD integrated in 28 nm FD-SOI CMOS technology to reduce the DCR
    Issartel, D. ; Gao, S. ; et al.
    In: Solid-State Electronics ; volume 191, page 108297 ; ISSN 0038-1101, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    Study of threshold voltage extraction from room temperature down to 4.2 K on 28 nm FD-SOI CMOS technology
    Berlingard, Quentin ; Lugo-Alvarez, Jose ; et al.
    In: Solid-State Electronics ; volume 194, page 108325 ; ISSN 0038-1101, 2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    The effects of strain and composition on the conduction-band offset of direct band gap type-I GeSn/GeSnSi quantum dots for CMOS compatible mid-IR light source
    Zhou, Hao ; Chuan Seng Tan ; et al.
    2020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Impact of Channel, Stress-Relaxed Buffer, and S/D Si1−xGe x Stressor on the Performance of 7-nm FinFET CMOS Design with the Implementation of Stress Engineering
    Othman, N. A. F. ; Sharifah Wan Muhamad Hatta ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 47 (2018-01-16), S. 2337-2347
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Review—System-on-Chip SMO Gas Sensor Integration in Advanced CMOS Technology
    Lahlalia, Ayoub ; Filipovic, Lado
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 165 (2018), S. B862- (18S.)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    CMOS charge qubits and qudits: entanglement entropy and mutual information as an optimization method to construct CNOT and SWAP Gates
    Petropoulos, Nikolaos ; Blokhina, Elena ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 36 (2021-07-30), S. 095014-95014
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    Comprehensive understanding of dark count mechanisms of single-photon avalanche diodes fabricated in deep sub-micron CMOS technologies
    Xu, Yux ; Xiang, Ping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 168-174
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    A high-speed lateral PIN polysilicon photodiode on standard bulk CMOS process
    Chen, Diping ; Zeng, Yun ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 61-65
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Comparative analysis of CMOS circuits of a thermometer-to-binary encoder for integrated flash analog-to-digital converters
    Budanov, Dmitry O. ; Morozov, Dmitry ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 46 (2017), S. 45-54
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO2/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    J von Borany ; Engelmann, H-J ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 38 (2023-03-28), S. 055011-55011
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    Graph-based Compact Modeling (GCM) of CMOS transistors for efficient parameter extraction: A machine learning approach
    Gaidhane, Amol D. ; Yang, Ziyao ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 201 (2023-03-01), S. 108580-108580
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Investigation on holding voltage of asymmetric DDSCR with floating heavy doping in 0.18 μm CMOS process
    Guan, Wenjie ; Wang, Yang ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 199 (2023), S. 108486-108486
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    Design of embedded SCR device to improve ESD robustness of stacked-device output driver in low-voltage CMOS technology
    Yan Lian Chiu ; Lin, Chun-Yu
    In: Solid-State Electronics, Jg. 124 (2016-10-01), S. 28-34
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    A smart noise- and RTN-removal method for parameter extraction of CMOS aging compact models
    Diaz-Fortuny, Javier ; Fernández, Francisco V. ; et al.
    2019
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -