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245 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    Bandwidth of integrated photodiodes in standard CMOS for CD/DVD applications
    RADOVANOVIC, Sasa ; ANNEMA, Annejohan ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 3-4, S. 705-710
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    A MOSFET power supply clamp with feedback enhanced triggering for ESD protection in advanced CMOS technologies
    SMITH, Jeremy C ; BOSELLI, Gianluca
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 201-210
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    Study of the ESD behavior of different clamp configurations in a 0.35 μm CMOS technology
    RICHIER, C ; MAENE, N ; et al.
    In: 1997 Symposium on electrical overstress/electrostatic discharge (EOS/ESD), Jg. 38 (1998), Heft 11, S. 1733-1739
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    Induced damages on CMOS and bipolar integrated structures under focused ion beam irradiation
    BENBRIK, J ; PERDU, P ; et al.
    In: Reliability of electron devices, failure physics and analysis, Jg. 38 (1998), Heft 6-8, S. 901-905
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    New layout design for submicron CMOS output transistors to improve driving capability and ESD robustness
    KER, M.-D ; CHEN, T.-Y ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 39 (1999), Heft 3, S. 415-424
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    On-chip electrostatic discharge protection for CMOS gas sensor systems-on-a-chip (SoC)
    SALCEDO, Javier A ; LIOU, Juin J ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 8, S. 1285-1294
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    Damped transient power clamps for improved ESD protection of CMOS
    HUNTER, Bradford L ; BUTKA, Brian K
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 1, S. 77-85
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    TLP analysis of 0.125 μm CMOS ESD input protection circuit
    CHAINE, Michael ; DAVIS, James ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 223-231
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    Electrostatic discharge (ESD) protection for CMOS output buffers in scaled-down VLSI technology
    KER, M.-D
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 38 (1998), Heft 4, S. 619-639
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    Criteria to reduce failures induced from conveyed electromagnetic interferences on CMOS operational amplifiers
    GRAFFI, S ; MASETTI, G ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 37 (1997), Heft 1, S. 95-113
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    CMOS VLSI reliability test model
    LISENKER, B ; NEVO, Y
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 37 (1997), Heft 1, S. 115-120
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    An experimental study of 1.5 keV X-ray radiation effects on CMOS devices
    SRIVASTAVA, A ; NEMA, R ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 36 (1996), Heft 3, S. 323-333
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    Building in reliability with latch-up, ESD and hot carrier effects on 0.25 μm CMOS technology
    LEROUX, C ; SALOME, P ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 38 (1998), Heft 10, S. 1547-1552
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Impact of geometrical scaling on parasitic pnp bipolar transistor in N-well, 0.25 μm CMOS devices and its effect on latchup immunity
    LEONG, K.-C ; LIU, P.-C ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 38 (1998), Heft 10, S. 1621-1626
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    Stuck fault test generation for dynamic CMOS
    ISMAEEL, A. A
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 34 (1994), Heft 10, S. 1597-1613
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    Stepped dose effects on total dose damage to UMC6116 CMOS SRAM devices
    MENICONI, M ; BARRY, D. M
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 34 (1994), Heft 1, S. 1-6
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    Structures for ESD protection in CMOS processes
    FRIED, R ; BLECHER, Y ; et al.
    In: Reliability physics of advanced electron devices, Jg. 37 (1997), Heft 7, S. 1111-1120
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Scaling down and reliability problems of gigabit CMOS circuits
    KRAUTSCHNEIDER, W. H ; KOHLHASE, A ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 37 (1997), Heft 1, S. 19-37
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    Power-constrained testing for bridging and stuck short faults in CMOS combinational circuits
    ISMAEEL, A. A ; BHATNAGAR, R
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 37 (1997), Heft 5, S. 753-761
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    A method of threshold voltage and current gain factor estimation for CMOS IC input transistors
    PIDIN, S
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 33 (1993), Heft 13, S. 2047-2052
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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