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  1. CHI, Yu M ; MALLIK, Udayan ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 42 (2007), Heft 10, S. 2187-2196
    Online Konferenz
  2. SOLTANIAN, Babak ; AINSPAN, Herschel ; et al.
    In: Special issue on the CICC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 8, S. 1635-1641
    Online Konferenz
  3. HUI DONG, LEE ; KYUNG AI, LEE ; et al.
    In: 2006 European Microwave Week, Jg. 55 (2007), Heft 6, S. 1363-1373
    Online Konferenz
  4. TAJALLI, Armin ; MULLER, Paul ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 42 (2007), Heft 10, S. 2235-2244
    Online Konferenz
  5. GUSTAFSSON, Mikael ; PÄRSSINEN, Aarno ; et al.
    In: ESSCIRC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 7, S. 1492-1500
    Online Konferenz
  6. MAXIM, Adrian ; POORFARD, Ramin K ; et al.
    In: 2006 Symposium on VLSI circuits, Jg. 42 (2007), Heft 4, S. 897-921
    Online Konferenz
  7. YOU, ZHENG ; SAAVEDRA, Carlos E
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 42 (2007), Heft 10, S. 2197-2203
    Online Konferenz
  8. WITTE, Johan F ; MAKINWA, Kofi A. A ; et al.
    In: ESSCIRC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 7, S. 1529-1535
    Online Konferenz
  9. PERRY, Raymond T ; LEWIS, Stephen H ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 42 (2007), Heft 10, S. 2180-2186
    Online Konferenz
  10. ONCU, Ahmet ; WASANTHAMALA BADALAWA, B. B. M ; et al.
    In: ESSCIRC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 7, S. 1464-1471
    Online Konferenz
  11. KER, Ming-Dou ; HSU, Sheng-Fu
    In: IEEE International Electron Devices Meeting 2004 (IEDM technical digest), 2004, S. 937-940
    Konferenz
  12. AARAJ, Najwa ; NAZER, Anis ; et al.
    In: 19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (10-13 October, 2004, Cannes, France), 2004, S. 264-271
    Konferenz
  13. ELKHALILI, O ; SCHREY, O. M ; et al.
    In: Detectors and associated signal processing (Saint Etienne, 1-2 October 2003), 2004, S. 208-216
    Konferenz
  14. VILLANUEVA, G ; MONTSERRAT, J ; et al.
    In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United Kingdom, Jg. 73-74 (2004), S. 480-486
    Konferenz
  15. GILL, Balkararn S ; PAPACHRISTOU, Chris ; et al.
    In: 22nd IEEE VLSI test symposium (Napa Valley CA, 25-29 April 2004), 2004, S. 325-330
    Konferenz
  16. TEJADA, Francisco ; ANDREOU, Andreas G ; et al.
    In: 2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (proceedings), 2004, S. 880-883
    Konferenz
  17. ALTET, J ; RUBIO, A ; et al.
    In: 22nd IEEE VLSI test symposium (Napa Valley CA, 25-29 April 2004), 2004, S. 179-184
    Konferenz
  18. KIM, Jonghae ; PLOUCHART, Jean-Olivier ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems : materials science, processing, reliability, and manufacturing (Honolulu HI, 3-8 October 2004), 2004, S. 292-311
    Konferenz
  19. FEDDER, Gary K
    In: Design, test, integration and packaging of MEMS/MOEMS 2004 (DTIP 2004), 2004, S. 1-6
    Konferenz
  20. WANG, Jinn-Shyan ; SHIEH, Shang-Jyh ; et al.
    In: 2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (proceedings), 2004, S. 401-404
    Konferenz
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