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  1. Detailansicht für Treffer 81 öffnen
    CMOS Class C amplifier for motion detection
    Kavitha, A. ; Narmadha, C. ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 47 (2021), S. 191-197
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  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    Quantification of the likelihood of single event multiple transients in logic circuits in bulk CMOS technology
    Desai, Madhav P. ; Rao, Nanditha P.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 72 (2018-02-01), S. 86-99
    Online unknown
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  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    A novel high-performance time-balanced wide fan-in CMOS circuit
    Sharroush, Sherif M.
    In: Alexandria Engineering Journal, Jg. 55 (2016-09-01), Heft 3, S. 2565-2582
    Online unknown
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  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    An active CMOS optical receiver employing an inductor-less, low-noise and high-gain regulated cascode transimpedance amplifier
    Dolatshahi, Mehdi ; Moftakharzadeh, Ali ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 110 (2021-04-01), S. 105015-105015
    Online unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    Benefits of XPS nanocharacterization for process development and industrial control of thin SiGe channel layers in advanced CMOS technologies
    Rozé, F. ; Baron, Thierry ; et al.
    In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 70 (2017-11-01), S. 105-110
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    Evaluation of the signal quality of an inexpensive CMOS camera towards imaging a high-resolution plastic scintillation detector array
    Ottaway, David J. ; Jennings, Matthew ; et al.
    In: Radiation Measurements, Jg. 104 (2017-09-01), S. 22-31
    Online unknown
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  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    Linearity enhancement in the entire tuning range of CMOS OTA using a new tune compensated source degeneration technique
    Rezaei, Farzan
    In: Microelectronics Journal, Jg. 66 (2017-08-01), S. 128-135
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    A novel precision CMOS current reference for IoT systems
    Xu, Huachao ; Wang, Jin ; et al.
    In: AEU - International Journal of Electronics and Communications, Jg. 130 (2021-02-01), S. 153577-153577
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    Implementation and operation of a fiber-coupled CMOS detector in a low energy electron Microscope
    Franz, T. ; M. Horn-von Hoegen ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 221 (2021-02-01), S. 113180-113180
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    Single Event Effects in 0.18 μm Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SEU and SEFI
    Feng, Jie ; Zhou, Dong ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 117 (2021-02-01), S. 114038-114038
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    Nonlinear error analysis and calibration model for cyclic ADCs in large array CMOS image sensors
    Xu, Jiangtao ; Gao, Zhiyuan ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 117 (2021-02-01), S. 114036-114036
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    Comprehensive understanding of dark count mechanisms of single-photon avalanche diodes fabricated in deep sub-micron CMOS technologies
    Xu, Yux ; Xiang, Ping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 168-174
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    A high-speed lateral PIN polysilicon photodiode on standard bulk CMOS process
    Chen, Diping ; Zeng, Yun ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 61-65
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  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Aging comparative analysis of high-performance FinFET and CMOS flip-flops
    Rahebeh Niaraki Asli ; Taghipour, Shiva
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 69 (2017-02-01), S. 52-59
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  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    The impact of BTI aging on the reliability of level shifters in nano-scale CMOS technology
    Rossi, Daniele ; Halak, Basel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 67 (2016-12-01), S. 74-81
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    Radiation tolerance study of a commercial 65 nm CMOS technology for high energy physics applications
    Ding, Lili ; Gerardin, Simone ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, Jg. 831 (2016-09-01), S. 265-268
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    Design, simulation, and implementation of an integrated, hybrid photocurrent-to-digital converter in CMOS technology
    Strle, Drago ; Nahtigal, Uro
    In: Integration, Jg. 55 (2016-09-01), S. 254-264
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    A CMOS low noise amplifier with employing noise cancellation and modified derivative superposition technique
    Asieh Parhizkar Tarighat ; Yargholi, Mostafa
    In: Microelectronics Journal, Jg. 54 (2016-08-01), S. 116-125
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  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    Two Stage CMOS Operational Amplifier: Analysis and Design
    Suman, Shruti
    In: SSRN Electronic Journal, 2019
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  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Design Of Low Power Two Stage Op-Amp Using Sub-20 nm CMOS Technology
    Ulayil Sajesh Kumar ; Risana, Nafeesath
    In: SSRN Electronic Journal, 2019
    Online unknown
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