Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
551 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

551 Treffer

Sortierung: 
  1. SIZOV, Fiodor F ; OVSYUK, Victor N ; et al.
    In: Semiconductor photodetectors II (San Jose CA, 25-26 January 2005), 2005, S. 132-139
    Konferenz
  2. AGUANNO, Mauro V ; LAKESTANI, Fereydoun ; et al.
    In: Detectors and associated signal processing (Saint Etienne, 1-2 October 2003), 2004, S. 304-312
    Konferenz
  3. SHCHERBACK, Igor ; DANOV, Tatiana ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 232-241
    Konferenz
  4. ELLINGER, Frank ; SCHMATZ, Martin ; et al.
    In: Noise in devices and circuits II (Maspalomas, 26-28 May 2004), 2004, S. 131-140
    Konferenz
  5. LECHUGA, L. M ; SEPULVEDA, B ; et al.
    In: Optoelectronic integration on silicon (San Jose CA, 27-28 January 2004), 2004, S. 96-110
    Konferenz
  6. KANG, Sung-Mo ; GE, YANG ; et al.
    In: Microelectronics : design, technology, and packaging (Perth, 10-12 December 2003), 2004, S. 56-66
    Konferenz
  7. LIN, Fu-Chuan ; LALITHAMBIKA, Vinod A ; et al.
    In: Optoelectronic integrated circuits VI (San Jose CA, 26 January 2004), 2004, S. 56-64
    Konferenz
  8. CHENG, Ying-Chou ; LEE, Chi-Yuan ; et al.
    In: MEMS, MOEMS, and micromachining (Strasbourg, 29-30 April 2004), 2004, S. 274-283
    Konferenz
  9. WADA, Kazumi
    In: Optoelectronic integration on silicon (San Jose CA, 27-28 January 2004), 2004, S. 16-24
    Konferenz
  10. KOLLER, Norbert ; O'LEARY, Paul ; et al.
    In: Machine vision applications in industrial inspection XII (San Jose CA, 21-22 January 2004), 2004, S. 108-115
    Konferenz
  11. DONG, WANG ; CHANKI, HA ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 67-75
    Konferenz
  12. KAWAHITO, Shoji ; IZHAL ABDUL, HALIN
    In: Three-dimensional image capture and applications VI (San Jose CA, 19-20 January 2004), 2004, S. 69-78
    Konferenz
  13. RYAN, Philip ; HART, Brian ; et al.
    In: Microelectronics : design, technology, and packaging (Perth, 10-12 December 2003), 2004, S. 130-136
    Konferenz
  14. MCCLEARY, Brent
    In: Mathematics of data/image coding, compression, and encryption VI, with applications (San Diego CA, 5 & 7 August 2003), 2004, S. 153-164
    Konferenz
  15. MASSARI, N ; VIARANI, N ; et al.
    In: Vibration measurements by laser techniques : advances and applications (Ancona, 22-25 June 2004), 2004, S. 272-279
    Konferenz
  16. CHU, Failop ; GUIDASH, R. M ; et al.
    In: Digital photography II (16-17 January 2006, San Jose, California, USA), 2006, S. 606903.1
    Konferenz
  17. CHUANG, ZHANG ; TINGHUI, XIN ; et al.
    In: Smart electronics, MEMS, bioMEMS, and nanotechnology (San Diego CA, 3-5 March 2003), 2003, S. 29-35
    Konferenz
  18. CHENG, I-Chun ; WAGNER, Sigurd
    In: Poly-silicon thin film transistor technology and pplications in displays and other novel technology areas (Santa Clara CA, 21-22 January 2003), 2003, S. 179-186
    Konferenz
  19. CELINSKI, Peter ; COTOFANA, Sorin D ; et al.
    In: VLSI circuits and systems (Maspalomas, 19-21 May 2003), 2003, S. 53-64
    Konferenz
  20. HAO, XUETAO ; JIANG, JIE ; et al.
    In: Instrumentation and control technology (Beijing, 24-27 October 2003), 2003, S. 207-210
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -