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849 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    A Novel Computing-in-Memory Platform Based on Hybrid Spintronic/CMOS Memory
    Yang, Zhi ; He, Kuiqing ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 4, S. 1698-1705
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    Design and Analysis of a CMOS Moore Fractal MOM Capacitor With an Application to an RF Active Image Reject Filter
    Ray, Arup ; De, Arijit ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 2, S. 704-710
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    Controlling Threshold Voltage of CMOS SOI Nanowire FETs With Sub-1 nm Dipole Layers Formed by Atomic Layer Deposition
    Zheng, Dongqi ; Chung, Wonil ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 2, S. 851-856
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    Assessing RF/AC Performance and Linearity Analysis of NCFET in CMOS-Compatible Thin-Body FDSOI
    Roy, Siddhanta ; Chakrabarty, Pralay ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 2, S. 475-481
    Online serialPeriodical
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    CMOS-Compatible Low-Power Gated Diode Synaptic Device for Hardware- Based Neural Network
    Park, Min-Kyu ; Yoo, Ho-Nam ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 2, S. 832-837
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Design and Analysis of a CMOS Moore Fractal MOM Capacitor With an Application to an RF Active Image Reject Filter
    Ray, Arup ; De, Arijit ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 2, S. 704-710
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Mitigation of Parasitic Light Sensitivity in Global Shutter CMOS Image Sensors Through Use of Correction Frame
    Marcelot, O. ; Pace, F. ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 9, S. 4491-4496
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Reconfigurable MoTe<subscript>2</subscript> Field-Effect Transistors and its Application in Compact CMOS Circuits
    Chen, Jing ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 9, S. 4748-4753
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings
    Cao, Chen ; Hakamata, Masashi ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 6, S. 2851-2857
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    Displacement Damage Effects in Backside Illuminated CMOS Image Sensors
    Liu, Bingkai ; Li, Yudong ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 6, S. 2907-2914
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    Overview of CMOS Global Shutter Pixels
    Velichko, Sergey
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 6, S. 2806-2814
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    A Two-Tap Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With Pump Gate Modulator for Low-Power Applications
    Zhang, Bing ; Hu, Congzhen ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 6, S. 2858-2864
    Online serialPeriodical
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    2-D Photon-Detection-Probability Simulation and a Novel Guard-Ring Design for Small CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Liu, Chun-Hsien ; Hsien, Chin-An ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 6, S. 2873-2878
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Integrated Digital and Analog Circuit Blocks in a Scalable Silicon Carbide CMOS Technology
    Romijn, Joost ; Vollebregt, Sten ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2021), Heft 1, S. 4-10
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Sikder, Urmita ; Horace-Herron, Kelsey ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6430-6436
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    TCAD-Based Assessment of the Lateral GAA Nanosheet Transistor for Future CMOS
    Huang, Ya-Chi ; Chiang, Meng-Hsueh ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6586-6591
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Sikder, Urmita ; Horace-Herron, Kelsey ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6430-6436
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    A Study on the Isolation Ability of <underline>LOC</underline>al <underline>O</underline>xidation of <underline>SiC</underline> (LOCOSiC) for 4H-SiC CMOS Process
    Tsui, Bing-Yue ; Tsai, Te-Kai ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6644-6647
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  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    CMOS-Compatible Ti/TiN/Al Refractory Ohmic Contact for GaAs Heterojunction Bipolar Transistors Grown on Ge/Si Substrate
    Wang, Yue ; Loke, Wan Khai ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6065-6068
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  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    Advancing Monolayer 2-D nMOS and pMOS Transistor Integration From Growth to Van Der Waals Interface Engineering for Ultimate CMOS Scaling
    Dorow, Chelsey ; O'Brien, Kevin ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 68 (2021), Heft 12, S. 6592-6598
    Online serialPeriodical
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