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    Low Noise-Figure P+ AA Mesh Inductors for CMOS UWB RFIC Applications.
    Chen, Chi-Chen ; Lee, Jen-How ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 12, S. 3542-3548
    Online academicJournal
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    Output-Conductance Transition-Free Method for Improving the Radio-Frequency Linearity of Silicon-on-Insulator MOSFET Circuits.
    Daghighi, Arash
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-07-01), Heft 7, S. 2257-2263
    Online academicJournal
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    Gate-Source-Drain Architecture Impact on DC and RF Performance of Sub-100-nm Elevated Source/Drain NMOS Transistors.
    Jurczak, Wutthinan ; Jurczak, Malgorzata ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 50 (2003-03-01), Heft 3, S. 610-617
    Online academicJournal
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    academicJournal
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    The Impact of Semiconductor Technology Scaling on CMOS RF and Digital Circuits for Wireless Application.
    Lee, Kwyro ; Nam, Ilku ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005-07-01), Heft 7, S. 1415-1422
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    Performance enhancement of the nMOSFET low-noise amplifier by package strain
    Hua, W.-C. ; Chang, H.-L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007), Heft 1, S. 160-162
    Online academicJournal
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    An Interconnecting Technology for RF MEMS Heterogeneous Chip Integration.
    Chao, Tzu-Yuan ; Li, Chun-Hsing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-04-01), Heft 4, S. 928-938
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    CMOS Device and Circuit Degradations Subject to HfO<subscript>2</subscript> Gate Breakdown and Transient Charge-Trapping Effect.
    Yu, Chuanzhao ; Yuan, J. S.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007), Heft 1, S. 59-67
    Online academicJournal
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    Look-Up Table Approach for RF Circuit Simulation Using a Novel Measurement Technique.
    Agarwal, Saurabh N. ; Jha, Anuranjan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005-05-01), Heft 5, S. 973-979
    Online academicJournal
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