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  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    Dark Noise Suppression of NIR Response Enhanced Si-CMOS Sensor.
    Wang, Ke ; Peng, Chengxiang ; et al.
    In: Photonics, Jg. 9 (2022-05-01), Heft 5, S. 307-315
    academicJournal
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  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    Resolving Multi-Path Interference in Compressive Time-of-Flight Depth Imaging with a Multi-Tap Macro-Pixel Computational CMOS Image Sensor.
    Horio, Masaya ; Feng, Yu ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 22 (2022-04-01), Heft 7, S. 2442-2460
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    A Low-Power Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With Fixed Depth Noise Compensation and Dual-Mode Imaging for Depth Dynamic Range Enhancement.
    Piao, Canxing ; Ahn, Yeonsoo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 69 (2022-10-01), Heft 10, S. 3989-3999
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    Noninvasive Non-Contact SpO 2 Monitoring Using an Integrated Polarization-Sensing CMOS Imaging Sensor.
    Sarkar, Mukul ; Assaad, Maher
    In: Sensors (14248220), Jg. 22 (2022-10-15), Heft 20, S. N.PAG- (16S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    Hybrid Pixels With Si Photodiode and 4H-SiC MOSFETs Using Direct Heterogeneous Bonding Toward Radiation Hardened CMOS Image Sensors.
    Meguro, Tatsuya ; Takeyama, Akinori ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-10-01), Heft 10, S. 1713-1716
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    Time Domain Noise Analysis of Oversampled CMOS Image Sensors.
    Suess, Andreas ; Wilhelmsen, Mathias ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2973-2978
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    A 70-dB SNR High-Speed Global Shutter CMOS Image Sensor for in Situ Fluid Concentration Distribution Measurements.
    Oikawa, Tetsu ; Kuroda, Rihito ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2965-2972
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    A Review of 3-Dimensional Wafer Level Stacked Backside Illuminated CMOS Image Sensor Process Technologies.
    Wuu, Shou-Gwo ; Chen, Hsin-Li ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2766-2778
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings.
    Cao, Chen ; Hakamata, Masashi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2851-2857
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Displacement Damage Effects in Backside Illuminated CMOS Image Sensors.
    Liu, Bingkai ; Li, Yudong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2907-2914
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Investigation of the Possibility of Using Microspectrometers Based on CMOS Photodiode Arrays in Small-Sized Devices for Optical Diagnostics.
    Hotra, Oleksandra ; Firago, Vladimir ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 22 (2022-06-01), Heft 11, S. 4195-4216
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    Compact CMOS Wideband Instrumentation Amplifiers for Multi-Frequency Bioimpedance Measurement: A Design Procedure.
    Corbacho, Israel ; Carrillo, Juan M. ; et al.
    In: Electronics (2079-9292), Jg. 11 (2022-06-01), Heft 11, S. 1668-1685
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    A High Dynamic Range 128 × 120 3-D Stacked CMOS SPAD Image Sensor SoC for Fluorescence Microendoscopy.
    Erdogan, Ahmet T. ; Al Abbas, Tarek ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-06-01), Heft 6, S. 1649-1660
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    Effect of proton beam irradiation on the tracking efficiency of CMOS image sensors.
    Fu, Jing ; Feng, Jie ; et al.
    In: Radiation Effects & Defects in Solids: Incorporating Plasma Techniques & Plasma Phenomena, Jg. 177 (2022-05-01), Heft 5/6, S. 590-603
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Two High-Precision Proximity Capacitance CMOS Image Sensors with Large Format and High Resolution †.
    Sugama, Yuki ; Watanabe, Yoshiaki ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 22 (2022-04-01), Heft 7, S. 2770-2789
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    A Rapid Detection Method for Fungal Spores from Greenhouse Crops Based on CMOS Image Sensors and Diffraction Fingerprint Feature Processing.
    Wang, Yafei ; Mao, Hanping ; et al.
    In: Journal of Fungi, Jg. 8 (2022-04-01), Heft 4, S. 374-390
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    基于暗电流CMOS图像传感器 固定模式噪声校正研究. (Chinese)
    强, 李 ; 金龙旭. ; et al.
    In: Chinese Journal of Liquid Crystal & Displays, Jg. 36 (2021-02-01), Heft 2, S. 1-7
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Custom CMOS image sensor design on a budget.
    In: Photonics Components & Subsystems, Jg. 23 (2024-04-01), Heft 4, S. 5-5
    serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    A Novel Multiscale Residual Aggregation Network-Based Image Super-Resolution Algorithm for Semiconductor Defect Inspection.
    Liu, Yang ; Hu, Lilei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 37 (2024-02-01), Heft 1, S. 93-102
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    In-ADC, Rank-Order Filter for Digital Pixel Sensors.
    Kłosowski, Miron ; Sun, Yichuang ; et al.
    In: Electronics (2079-9292), Jg. 13 (2024), Heft 1, S. 46-58
    Online academicJournal
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