Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
1.800 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

1.800 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    Ultrathin gate oxide CMOS on (111) surface-oriented Si substrate
    Momose, Hisayo Sasaki ; Ohguro, Tatsuya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-09-01), Heft 9, S. 1597-1605
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    Channel engineering for analog device design in deep submicron CMOS technology for system on chip applications
    Deshpande, Hemant V. ; Cheng, Baohong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-09-01), Heft 9, S. 1558-1565
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    Amorphous wire and CMOS IC-based sensitive micromagnetic sensors utilizing magnetoimpedance (MI) and stress-impedance (SI) effects
    Mohri, Kaneo ; Uchiyama, Tsuyoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Magnetics, Jg. 38 (2002-09-01), Heft 5, S. 3063-3068
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    A hybrid Nb/CMOS integration process for superconducting tunnel junction imaging arrays
    Wong, Andre ; Meng, Xiaofan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 12 (2002-09-01), Heft 3, S. 1872-1875
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    A CMOS feedforward neural-network chip with on-chip parallel learning for oscillation cancellation
    Liu, Jin ; Brooke, Martin A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks, Jg. 13 (2002-09-01), Heft 5, S. 1178-1186
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    Design of VLSI CMOS circuits under thermal constraint
    Daasch, W. Robert ; Lim, Chee How ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Analog and Digital..., Jg. 49 (2002-08-01), Heft 8, S. 589-593
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    CMOS photodiode with enhanced responsivity for the UV/blue spectral range
    Ghazi, Ayman ; Zimmermann, Horst ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-07-01), Heft 7, S. 1124-1128
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    Leakage scaling in deep submicron CMOS for SoC
    Lin, Yo-Sheng ; Wu, Chung-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-06-01), Heft 6, S. 1034-1041
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    High-speed CMOS circuits with parallel dynamic logic and speed-enhanced skewed static logic
    Kim, Chulwoo ; Jung, Seong-Ook ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Analog and Digital..., Jg. 49 (2002-06-01), Heft 6, S. 434-439
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Speed superiority of scaled double-gate CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ge, Lixin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-05-01), Heft 5, S. 808-811
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Analytical charge collection and MTF model for photodiode-based CMOS imagers
    Lin, Chi-Shao S. ; Mathur, Bimal P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-05-01), Heft 5, S. 754-761
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    A numerical analysis of a CMOS image sensor with a simple fixed-pattern-noise-reduction technology
    Yonemoto, Kazuya ; Sumi, Hirofumi
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-05-01), Heft 5, S. 746-753
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    CMOS-compatible planar silicon waveguide-grating-coupler photodetectors fabricated on silicon-on-insulator (SOI) substrates
    Csutak, S.M. ; Dakshina-Murthy, S. ; et al.
    In: IEEE Journal of Quantum Electronics, Jg. 38 (2002-05-01), Heft 5, S. 477-480
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    Speed-power-accuracy tradeoff in high-speed CMOS ADCs
    Uyttenhove, Koen ; Steyaert, Michel S.J.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Analog and Digital..., Jg. 49 (2002-04-01), Heft 4, S. 280-287
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Advanced model and analysis of series resistance for CMOS scaling into nanometer regime-Part II: quantitative analysis
    Kim, Seong-Dong ; Park, Cheol-Min ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-03-01), Heft 3, S. 467-472
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    On the SiO2-based gate-dielectric scaling limit for low standby power applications in the context of a 0.13 micrometer CMOS logic technology
    Lin, Yo-Sheng ; Liaw, Jung-Jih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-03-01), Heft 3, S. 442-448
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    Low-noise silicon avalanche photodiodes fabricated in conventional CMOS technologies
    Rochas, Alexis ; Pauchard, Alexandre R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-03-01), Heft 3, S. 387-394
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Threshold voltage roll-up/roll-off characteristic control in sub-0.2-mu m single workfunction gate CMOS for high-performance DRAM applications
    Inaba, Satoshi ; Katsumata, Ryota ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-02-01), Heft 2, S. 308-313
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    Ultralow resistance W/Poly-Si Gate CMOS technology using amorphous-Si/TiN buffer layer
    Wakabayashi, Hitoshi ; Yamamoto, Toyoji ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-02-01), Heft 2, S. 295-300
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    A 0.2-mu m 180-GHz-fmax 6.7-ps-ECL SOI/HRS self-aligned SEG SiGe HBT/CMOS technology for microwave and high-speed digital applications
    Washio, Katsuyoshi ; Ohue, Eiji ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-02-01), Heft 2, S. 271-278
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -