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  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    Supply Voltage Dependence of Ring Oscillator Frequencies for Total Ionizing Dose Exposures for 7-nm Bulk FinFET Technology.
    Xiong, Yoni ; Feeley, Alexandra T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), Heft 8, S. 1579-1584
    Online academicJournal
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    Low-Density Parity-Check Coded Direct Sequence Spread Spectrum Receiver Based on Analog Probabilistic Processing.
    Ding, Xuhui ; An, Jianping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Vehicular Technology, Jg. 70 (2021-07-01), Heft 7, S. 6355-6370
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    TID Effects Induced by ARACOR, 60Co, and ORIATRON Photon Sources in MOS Devices: Impact of Geometry and Materials.
    Lambert, Damien ; Gaillardin, Marc ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 991-1001
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    Total Ionizing Dose Effects on Multistate HfOₓ-Based RRAM Synaptic Array.
    Han, X. ; Privat, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 756-761
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies.
    Privat, A. ; Barnaby, H. J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 671-676
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Modeling and Simulation of PGSPAD-Based Silicon Photomultipliers.
    Shawkat, Mst Shamim Ara ; Hasan, Md. Sakib ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-03-01), Heft 3, S. 279-291
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Analytical Modeling of Single Event Transients Propagation in Combinational Logic Gates.
    Gili, Xavier ; Barcelo, Salvador ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-04-15), Heft 4, S. 971-979
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed With Different Transistor Widths.
    Zhao, Wen ; He, Chaohui ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1491-1499
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    Characterization and Modeling of Gigarad-TID-Induced Drain Leakage Current of 28-nm Bulk MOSFETs.
    Zhang, Chun-Min ; Jazaeri, Farzan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019), Heft 1, S. 38-47
    Online academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Signal Processing for High Granularity Calorimeter: Amplification, Filtering, Memorization, and Digitalization.
    Manen, Samuel ; Royer, Laurent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-08-02), Heft 4, S. 1511-1515
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Controller Area Network With Flexible Data Rate Transmitter Design With Low Electromagnetic Emission.
    Kang, Sukhwan ; Seong, Jewoo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Vehicular Technology, Jg. 67 (2018-08-01), Heft 8, S. 7290-7298
    Online academicJournal
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    Low-Power Front-End ASIC for Silicon Photomultiplier.
    Dorosz, P. ; Baszczyk, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-04-01), Heft 4, S. 1070-1078
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    Characterization of GigaRad Total Ionizing Dose and Annealing Effects on 28-nm Bulk MOSFETs.
    Zhang, Chun-Min ; Jazaeri, Farzan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-10-01), Heft 10, S. 2639-2647
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    Total Ionizing Dose Effects on a 12-bit 40kS/s SAR ADC Designed With a Dummy Gate-Assisted n-MOSFET.
    Kim, Tae Hyo ; Lee, Hee Chul
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-01-15), Heft 1, part 2, S. 648-653
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Development of a 64-Channel Readout ASIC for an 8 \times 8 SSPM Array for PET and TOF-PET Applications.
    Zhu, Xuezhou ; Deng, Zhi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 3a, S. 1327-1334
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  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    Kernel-Based Circuit Partition Approach to Mitigate Combinational Logic Soft Errors.
    Mahatme, N. N. ; Gaspard, N. J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3274-3281
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  17. Detailansicht für Treffer 77 öffnen
    A Simple Technique for Signal Compression in High Dynamic Range, High Speed X-ray Pixel Detectors.
    Fiorini, C. ; Nasri, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-10-02), Heft 5, S. 2595-2600
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  18. Detailansicht für Treffer 78 öffnen
    Temperature Compensated Floating Gate MOS Radiation Sensor With Current Output.
    Garcia-Moreno, E. ; Isern, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-22), Heft 5, S. 4026-4030
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  19. Detailansicht für Treffer 79 öffnen
    Experimental Estimation of the Window of Vulnerability for Logic Circuits.
    Mahatme, N. N. ; Gaspard, N. J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-07-10), Heft 4, S. 2691-2696
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 80 öffnen
    Experimental Estimation of the Window of Vulnerability for Logic Circuits.
    Mahatme, N. N. ; Gaspard, N. J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-07-01), Heft 4, S. 2691-2696
    Online academicJournal
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