Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
3.307 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

3.307 Treffer

Sortierung: 
  1. Gao, Lu ; Xu, Hao ; et al.
    In: 2023 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), 2023-10-15, S. 1-4
    Konferenz
  2. Shi, Yuhua ; Feng, Pei ; et al.
    In: 2022 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation (ICMA), 2022-08-07, S. 1335-1340
    Konferenz
  3. Shi, Yuhua ; Shang, Peng ; et al.
    In: 2020 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation (ICMA), 2020-10-13, S. 530-535
    Konferenz
  4. Liu, Mengrui ; Tan, Baimei ; et al.
    In: 2020 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2020-06-26, S. 1-3
    Konferenz
  5. Wang, Qi ; Tan, Baimei ; et al.
    In: 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2019-03-01, S. 1-3
    Konferenz
  6. Paul, Dipjyoti ; Sahidullah, Md ; et al.
    In: 2017 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP), 2017-03-01, S. 2047-2051
    Konferenz
  7. In: 2018 IEEE 9th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS), 2018-10-01, S. 4
    Konferenz
  8. Shibata, Hiroki ; Kotsubo, Toshikatsu ; et al.
    In: 2018 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC), 2018-06-01, S. 182-185
    Konferenz
  9. Wang, Bingquan ; Li, Changkun ; et al.
    In: 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2019-03-01, S. 1-3
    Konferenz
  10. Shi, Yuhua ; Feng, Pei ; et al.
    In: ICMA, Jg. 3 (2022), S. 1335-1340
    Konferenz
  11. Zhang, Man ; Zhang, Qi ; et al.
    In: 2016 IEEE 8th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS), 2016-09-01, S. 1-7
    Konferenz
  12. Scheirer, Walter J. ; Flynn, Patrick J. ; et al.
    In: 2016 IEEE 8th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS), 2016-09-01, S. 1-8
    Konferenz
  13. Korshunov, P. ; Marcel, S. ; et al.
    In: 2016 IEEE 8th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS), 2016-09-01, S. 1-6
    Konferenz
  14. Zhang, Jia ; Jie ; et al.
    In: 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2019-03-01, S. 1-3
    Konferenz
  15. Zhai, Wenjie ; Yang, Yangzhan
    In: 2011 International Conference on Consumer Electronics, Communications and Networks (CECNet), 2011-04-01, S. 166-169
    Konferenz
  16. 한민식 (Han Min-Sik) ; 박대균 (Park Dae-Kyun) ; et al.
    In: 한국CDE학회 학술발표회 논문집, Jg. 2010 (2010-01-31), Heft 1, S. 598-601
    Konferenz
  17. Cho, Byoung-Jun ; Park, Jin-Goo ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on Planarization/CMP Technology 2014, 2014-11-01, S. 70-74
    Konferenz
  18. Cheng, Jie ; Wang, Tongqing ; et al.
    In: Proceedings of International Conference on Planarization/CMP Technology 2014, 2014-11-01, S. 217-220
    Konferenz
  19. Brannon, Christopher Eric
    In: 2015 International Conference on Planarization/CMP Technology (ICPT), 2015-09-01, S. 1-7
    Konferenz
  20. In: 2018 IEEE 9th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS), 2018-10-01, S. 1
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -