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    Ultrathin gate oxide with a reduced transition layer grown by plasma-assisted oxidation
    Hyun, S. ; Buh, G. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 85 (2004), Heft 6, S. 988-990
    Online serialPeriodical
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  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Atomic force microscope laser illumination effects on a sample and its application for transient spectroscopy
    Buh, G. H. ; Kopanski, J. J.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 83 (2003), Heft 12, S. 2486-2488
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Real-time evolution of trapped charge in a SiO~2 layer: An electrostatic force microscopy study
    Buh, G. H. ; Chung, H. J. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 79 (2001), Heft 13, S. 2010-2012
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Imaging of a silicon pn junction under applied bias with scanning capacitance microscopy and Kelvin probe force microscopy
    Buh, G. H. ; Chung, H. J. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 77 (2000), Heft 1, S. 106-108
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Charge trap dynamics in a SiO~2 layer on Si by scanning capacitance microscopy
    Kang, C. J. ; Buh, G. H. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 74 (1999), Heft 13, S. 1815-1817
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Resistive switching transition induced by a voltage pulse in a Pt/NiO/Pt structure.
    Hwang, Inrok ; Lee, Myung-Jae ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 97 (2010-08-02), Heft 5, S. 52106-1- (3S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Ultrathin gate oxide with a reduced transition layer grown by plasma-assisted oxidation
    Moon, D. W. ; Moon, J. T. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 85 (2004-08-09), S. 988-990
    Online unknown
    Zugriff:
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Atomic force microscope laser illumination effects on a sample and its application for transient spectroscopy
    Kopanski, Joseph J. ; Buh, Gyoung H.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 83 (2003-09-22), S. 2486-2488
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Real-time evolution of trapped charge in a SiO2 layer: An electrostatic force microscopy study
    Kuk, Y. ; Buh, G. H. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 79 (2001-09-24), S. 2010-2012
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Imaging of a silicon pn junction under applied bias with scanning capacitance microscopy and Kelvin probe force microscopy
    Yi, J. H. ; Chung, Hyun-Jong ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 77 (2000-07-03), S. 106-108
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Charge trap dynamics in a SiO2 layer on Si by scanning capacitance microscopy
    Buh, G. H. ; Mang, K. M. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 74 (1999-03-29), S. 1815-1817
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Resistive switching transition induced by a voltage pulse in a Pt/NiO/Pt structure
    Byun, Ik-Su ; Kim, Jin-Soo ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 97 (2010-08-02), S. 052106-52106
    Online unknown
    Zugriff:
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Time-dependent electroforming in NiO resistive switching devices
    Hwang, Inrok ; Buh, Gyoung-Ho ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 95 (2009-10-05), S. 142101-142101
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Time-dependent electroforming in NiO resistive switching devices (3 pages)
    Buh, G. H. ; Hwang, I. ; et al.
    In: APPLIED PHYSICS LETTERS, Jg. 95 (2009), Heft 14, S. 142101-142101
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Time-dependent electroforming in NiO resistive switching devices.
    Buh, Gyoung-Ho ; Hwang, Inrok ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 95 (2009-10-05), Heft 14, S. 142101-142103
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Resistive switching transition induced by a voltage pulse in a Pt/NiO/Pt structure.
    Hwang, Inrok ; Lee, Myung-Jae ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 97 (2010-08-02), Heft 5, S. 52106-52108
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Charge trap dynamics in a SiO[sub 2] layer on Si by scanning capacitance microscopy.
    Kang, C.J. ; Buh, G.H. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 74 (1999-03-29), Heft 13, S. 1815-1817
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Real-time evolution of trapped charge in a SiO[sub 2] layer: An electrostatic force microscopy study.
    Buh, G. H. ; Chung, H. J. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 79 (2001-09-24), Heft 13
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    serialPeriodical
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    serialPeriodical
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