Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
14 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

14 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Interconnect capacitance characterization using charge-injection-induced error-free (CIEF) charge-based capacitance measurement (CBCM)
    Chang, Yao-Wen ; Chang, Hsin-Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-02-01), Heft 1, S. 50-56
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Extraction of geometry-related interconnect variation based on parasitic capacitance data
    Sun, L. ; Cheng, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 35 (2014-10-01), Heft 10, S. 980-980
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Intra- and Intersource Interactive Representation Learning Network for Remote Sensing Images Classification
    Ma, W. ; Guo, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing, Jg. 62 (2024), S. 1-15
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A novel simple CBCM method free from charge injection-induced errors
    Chang, Yao-Wen ; Chang, Hsing-Wen ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-05-01), Heft 5, S. 262-264
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Highly effective and versatile test structure for evaluating dielectric properties using flexible pulse generator on chip
    Mori, Shigetaka ; Sawada, Ken ; et al.
    In: 2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016-03-01, S. 106-109
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Evaluation of MOSFET C-V curve variation using test structure for charge-based capacitance measurement
    Tsuji, Katsuhiro ; Terada, Kazuo ; et al.
    In: 2011 IEEE ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, 2011-04-01, S. 8-12
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A novel CBCM method free from charge injection induced errors: investigation into the impact of floating dummy-fills on interconnect capacitance
    Chang, Y.W. ; Chang, H.W. ; et al.
    In: Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS, 2005, S. 235-238
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A simple system for on-die measurement of atto-Farad capacitance
    Baruch, Ezra ; Shperber, Shai ; et al.
    In: 2011 IEEE ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, 2011-04-01, S. 19-21
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Characterization of immobilized pH gradient formed in capillary based on quantum dots
    Xie, Yao ; Xie, Haiyan ; et al.
    In: 2007 IEEE/ICME International Conference on Complex Medical Engineering, 2007-05-01, S. 1063
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Highly effective and versatile test structure for evaluating dielectric properties using flexible pulse generator on chip
    Sawada, Ken ; Suzuki, Tsuyoshi ; et al.
    In: 2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016-03-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Evaluation of MOSFET C-V curve variation using test structure for charge-based capacitance measurement
    Mogami, Tohru ; Terada, Kazuo ; et al.
    In: 2011 IEEE ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, 2011-04-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A simple system for on-die measurement of atto-Farad capacitance
    Shperber, Shai ; Marks, Rachel ; et al.
    In: 2011 IEEE ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, 2011-04-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Characterization of immobilized pH gradient formed in capillary based on quantum dots
    Xie, Hai-Yan ; Deng, Yulin ; et al.
    In: 2007 IEEE/ICME International Conference on Complex Medical Engineering, 2007-05-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A novel CBCM method free from charge injection induced errors: investigation into the impact of floating dummy-fills on interconnect capacitance
    Lu, Tao-Cheng ; Chang, Yao-Wen ; et al.
    In: Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS, 2005-07-28
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -