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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 200-203serialPeriodicalZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 45 (2005), Heft 12, S. 1930-1934serialPeriodicalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014), S. 200-203Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005-12-01), S. 1930-1934Online unknownZugriff:
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